Produtos Tessent

O Tessent AnalogTest reduz o desenvolvimento e verificação de padrões de teste analógico dos meses de engenharia para as horas de engenharia. É a maneira mais eficaz de maximizar a cobertura de defeitos enquanto reduz o custo do teste.

O Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessário para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade enquanto reduz o tempo de teste em comparação com o BIST lógico tradicional.

Forneça o teste de varredura determinística da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando a compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Automatize a geração e inserção de hardware compatível com IEEE 1838 e defina a arquitectura de acesso de teste IEEE para circuitos integrados empilhados 3D.

Reduza o tempo de desenvolvimento do DFT e o custo do teste de fabricação, desacoplando os requisitos de DFT de nível de núcleo e de chip com a Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permita uma automatização abrangente e integração de teste, reparação, depuração e caracterização de memórias incorporadas com o Tessent MemoryBIST.

Permita a conformidade com a ISO 26262 com a solução de autoteste integrada de lógica ideal para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Combine automação e IP no chip para permitir o teste e diagnóstico IC a qualquer momento durante a operação funcional de um veículo — um requisito fundamental da norma ISO 26262.

Reduza o esforço de implementação de DFT com uma automação ideal do fluxo da Tessent Platform para DFT hierárquico.

Melhore os níveis de compressão de teste até 4X, habilite o DFT hierárquico, a prontidão lógica do HIST e a inserção de análise com o Tessent ScanPro.

Simplifique uma ampla gama de tarefas críticas de DFT com este novo software desenvolvido para equipas de design de IC.

Simplifique o processo de geração de conjuntos de teste compactos de alta cobertura. A capacidade do Tessent FastScan de ser aplicado a quase qualquer tipo de design torna-o a solução ATPG mais versátil disponível.

Fornecer automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um projeto de IC.

Automatize a adição do suporte de varredura de limites padrão IEEE 1149.1 a ICs de qualquer tamanho ou complexidade, reduzindo o esforço de desenvolvimento e melhorando o tempo de colocação no mercado.

Simule defeitos no nível do transistor para circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem varredura, automatizando a avaliação da cobertura para ajudar a cumprir padrões de qualidade como a ISO 26262.

Aplique tecnologias de diagnóstico com reconhecimento de layout e reconhecimento de células para classificar e identificar com precisão a localização dos defeitos que causam falhas durante os testes de fabricação.

Acelere a preparação de teste, depuração e caracterização de silício de dispositivos contendo estruturas de teste Tessent ATPG, EDT, BIST e/ou IJTAG dentro de um ambiente interativo automatizado.

Elimine o ruído dos dados de diagnóstico para determinar as causas subjacentes, identificar limitadores de rendimento sistemáticos e selecionar os melhores dispositivos para análise de falhas.

Solução de depuração e rastreamento RISC-V de ponta a ponta que consiste em IP incorporado e software concebido para fornecer capacidades abrangentes e eficientes de depuração e rastreamento.

Acelere a depuração, validação e otimização de SoCs multicore complexos. Aproveite a instrumentação incorporada e não intrusiva para permitir a observação do que está a acontecer no design quando o software está a ser executado no sistema.

Permitir que o software de aplicação a funcionar num SoC monitorize as operações de forma eficaz. Permitir que os produtos sejam sucessivamente refinados e otimizados com base nos dados recolhidos na utilização na vida real — não apenas no laboratório.

Garanta a mais alta qualidade de teste de fabrico com as soluções Tessent. Maximize o número de defeitos físicos detectados na sua solução de teste de defeito zero.

Reduza o risco e cumpra os padrões de segurança exigidos com soluções abrangentes de teste no sistema e classificação de falhas, garantindo que o seu produto esteja totalmente em conformidade com as aplicações críticas de segurança para as quais foi concebido.

Implemente uma solução de segurança abrangente para o seu produto IC, abordando autenticação, comunicação, proteção e gestão do ciclo de vida do dispositivo em testes, operação funcional e segurança a nível do sistema.

Diagnosticar e analisar dados de falha e rendimento em devoluções individuais de clientes ou dados de produção em volume. Obtenha feedback valioso sobre o design e o processo para melhorar a fiabilidade de futuros processos e designs.