Eventos Tessent

O Dr. Janusz Rajski, Vice-Presidente de Engenharia da Siemens, abre o VTS 2024 com a apresentação principal sobre os Grandes Desafios em Design para Test e Gestão do Ciclo de Vida do Silício.

Venha ver os nossos especialistas em Yield Learning e Test presentes nos casos de uso do SmartTest8 SSN.

Este webinar apresenta a Tessent Streaming Scan Network (SSN), uma solução DFT que simplifica e acelera drasticamente o planeamento e implementação de DFT através de métodos de automação e plug-&-play para entregar um tempo de entrada no mercado mais rápido.

Peter Shields, Product Manager, Tessent, fornece uma visão especializada sobre o padrão de rastreamento RISC-V e demonstra como a implementação da norma ajuda a reduzir os riscos de adoção do RISC-V.

Não perca este webinar, apresentando e demonstrando o novo software Tessent Multi-die que oferece automação abrangente para as tarefas DFT altamente complexas associadas aos mais recentes designs de IC 2.5D e 3D.

Saiba como enfrentar os desafios que os sistemas ADAS críticos de segurança apresentam aos projetistas de semicondutores no cumprimento dos requisitos de segurança funcional definidos pela norma ISO 26262.

Participe deste webinar para saber como a Tessent SiliconInsight resolve os desafios da introdução do silício para melhorar a rampa de rendimento e o tempo de colocação no mercado.

Assista a este webinar a pedido dos tecnólogos da Siemens e da PDF Solutions para saber mais sobre a nossa solução completa e integrada de ponta a ponta que inclui análise, diagnóstico de digitalização e machine learning.

Novos métodos e ferramentas para SoC DFT podem simplificar os problemas introduzidos pela tecnologia, design e escalabilidade do sistema. Saiba como reduzir o risco e melhorar o tempo de colocação no mercado com uma solução DFT mais previsível e fiável.

Assista a este webinar a qualquer momento sobre Abordar eficazmente o Desafio de Proteger Veículos Conectados e Autónomos.

Sintoniza-se para ouvir os líderes no terreno discutirem desafios técnicos na concepção de chips de IA. Gajinder Panesar, Siemens Fellow, fala sobre o valor do Embedded Analytics em ajudar os chips de IA e ML a atingirem o seu potencial.

Otimize o desempenho do SoC e realize manutenção preditiva no terreno. Uma abordagem profunda de monitorização de dados oferece melhorias radicais no tempo para obter receitas, qualidade do produto, fiabilidade e segurança e rentabilidade.

Assista a este webinar a pedido para saber mais sobre a tecnologia de cadeia de varredura reversível e como melhorou a resolução do diagnóstico em 4X num estudo de caso industrial.