A solução Tessent Embedded Analytics pode ser usada para produzir métricas de integridade e operação ao longo do ciclo de vida de um SoC. O software incorporado baseado no Tessent Embedded SDK pode conduzir os monitores inteligentes do Tessent Embedded Analytics a criar um sistema de monitorização autónomo no chip.
Descubra as Tessent Silicon Lifecycle Solutions, desde o design para testabilidade (DFT) até à monitorização em vida de sistemas eletrónicos fiáveis nesta apresentação Diamond entregue por Ankur Gupta na ITC.
Descubra como melhorar a observabilidade do sistema em vida usando telemetria de voltagem em tempo real e monitorização funcional.
Uma solução conjunta que combina telemetria física na matriz do Movellus Aeonic Insight™ Droop Detector com soluções de monitorização funcional da Tessent Embedded Analytics. Ao ligar estes instrumentos através de acionamento cruzado de hardware, o sistema oferece uma visão única e alinhada ao tempo do que aconteceu e porquê, correlacionando diretamente sequências de instruções específicas ou atividade de autocarro com eventos físicos de PDN que os causaram.
Leia mais sobre o impacto da latência de cauda longa e da depuração do servidor. Compreender estratégias detalhadas de software para prevenção de latência e depuração de desempenho.
