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Visão geral

Calibre NMclsRAF

O Calibre NMCLSRAF realiza a síntese de SRAF baseada em modelos guiados por ILT em projetos curvilíneos para garantir um controlo preciso da litografia, consistência na colocação do recurso de assistência de sub-resolução (SRAF), conformidade com o fabrico de máscaras (MRC) e tempo de execução rápido para a fabricação de circuitos integrados (IC).

Documento técnico

Soluções avançadas de ILT para fabricar designs de fotónica

Na última década, a tecnologia fotónica tem sido uma tecnologia emergente para telecomunicações ópticas e interligações ópticas em microelectrónica. Como resultado, uma grande diversidade de metodologias de design de fotónica fundiu-se com escalas e formas muito desafiadoras. A fabricação de tais formas fotónicas curvas e críticas requer técnicas avançadas de aprimoramento de resolução (RET), incluindo técnicas de litografia inversa (ILT) com litografia de imersão de 193 nm. Neste artigo, investigamos os desafios de fabrico de vários dispositivos fotónicos que utilizam soluções avançadas de ILT e o impacto da inserção de SRAF no fornecimento de boa qualidade de lito, incluindo erro de colocação de borda (EPE), banda PV e rugosidade da borda de linha (LER). Vamos demonstrar como as nossas soluções Calibre ILT permitem a fabricação dos designs de fotónica mais desafiadores.

A integrated circuit and printed circuit board
Principais Funcionalidades

Modelos curvilíneos para inserção SRAF de chip completo

A abordagem baseada em modelo oferece qualidade de litografia equivalente aos SRAF ILT em termos de variação da janela de processo (banda PV), profundidade de foco comum (DOF) e inclinação do log de imagem (ILS), enquanto melhora significativamente a eficiência do tempo de execução — mais rápido do que a síntese de ILT SRAF nativa.

Recursos em destaque do Calibre NMCLSRAF

Explore os nossos recursos em destaque para saber mais sobre o Calibre NMclsRAF.

FAQ

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