
Calibre EUV
Suporte abrangente para enfrentar os desafios únicos de EUV com alto RNA, como óptica anamórfica e modelagem 3D de máscara para contabilizar os efeitos de sombreamento.
A procura insaciável por circuitos integrados (CIs) continua a conduzir dimensões críticas mais pequenas. Os processos de fotolitografia, incluindo ultravioleta extremo (EUV), apresentam cada vez mais complexidade e volume de dados. As nossas soluções de litografia computacional permitem uma activação tecnológica económica.
Tanto os desafios litográficos como a complexidade computacional associada aos nós de processo avançados criam a necessidade de capacidades avançadas em software e hardware de litografia computacional. A solução Calibre oferece a melhor precisão, velocidade e custo de propriedade.

Proximidade óptica densa e correção de processo para permitir a fabricação profunda de submícron.
Insere funcionalidades de assistência de sub-resolução (SRAF) num design.
Poderosa simulação de chip completo e análise litográfica.

A GUI costumava lançar uma grande variedade de aplicações e visualizar os resultados.

Motor de calibração altamente escalável para modelos ópticos, resistentes e gravados.
Correção óptica de proximidade rápida baseada em pixels inversos.
GUI fácil de usar para otimização da fonte de iluminação.