O Tessent MemoryBist fornece uma solução completa para teste, diagnóstico, reparo, depuração e caracterização rápidos de memórias incorporadas. Aproveitando uma arquitetura hierárquica flexível, o autoteste e o autorreparo integrados podem ser integrados em núcleos individuais, bem como no nível superior.
O Tessent MemoryBist, um autoteste integrado de memória líder do setor, inclui um fluxo de automação excepcionalmente abrangente que fornece verificação de regras de projeto, planejamento de testes, integração e verificação, tudo no nível RTL ou de porta.
O Tessent MemoryBist ECC aumenta a confiabilidade, melhora a qualidade do teste e protege contra defeitos de envelhecimento. Seus critérios personalizáveis de aprovação/reprovação permitem uma combinação ideal de redundância de memória e código de correção de erros.
O Tessent MemoryBist NVM fornece testes e reparos flexíveis, diminui os custos dos testes de fabricação e aumenta a confiabilidade. Algoritmos automatizados específicos de NVM permitem modos de acesso especializados e funcionam com a opção ECC. Disponível a partir de 26
O BAP avançado fornece uma interface configurável para otimizar os testes no sistema. Ele também suporta um protocolo de baixa latência para configurar o controlador BIST de memória, executar testes Go/NoGo e monitorar o status de aprovação/falha.
Os algoritmos de teste de memória podem ser codificados no controlador Tessent MemoryBist e, em seguida, aplicados a cada memória por meio do controle de tempo de execução. Isso permite selecionar algoritmos de teste mais curtos à medida que o processo de fabricação amadurece.
A opção de reparo Tessent MemoryBist elimina as complexidades e os custos associados aos fluxos de reparo externos. Ele testa e repara permanentemente todas as memórias defeituosas em um chip usando praticamente nenhum recurso externo.
Assista Etienne Racine, gerente de produto da Tessent, falar sobre como o Tessent MemoryBist pode ajudar a maximizar a qualidade do teste, minimizar o tempo de teste, melhorar o rendimento e reparar memórias com sua arquitetura flexível.
Saiba como o uso do software Tessent permite que você se alinhe aos padrões e regulamentações emergentes e, ao mesmo tempo, ofereça um conjunto completo de soluções de ponta a ponta para atender aos requisitos dos desenvolvimentos atuais de IC automotivo.
Este artigo descreve as vantagens de usar uma arquitetura de barramento compartilhado para testar e reparar memórias em núcleos IPs e apresenta a automação disponível no Tessent MemoryBist.
Este estudo de caso descreve como a ON Semiconductor usou o fluxo hierárquico Tessent MemoryBist para reduzir o tempo de inserção da memória BIST em 6X.
