Tessent LogicBIST
O Tessent LogicBist é a solução de autoteste integrada líder do setor para testar os componentes lógicos digitais de circuitos integrados. É uma solução de teste ideal para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.
Por que Tessent LogicBist?
O Tessent LogicBist se integra eficientemente com o Tessent MissionMode e o Tessent TestKompress para criar uma solução completa de teste no sistema e na fabricação para dispositivos críticos de segurança.
Melhora a cobertura do teste
Projetada para aplicações híbridas TK/LBIST, a tecnologia de pontos de teste Tessent VersaPoint melhora a contagem de padrões ATPG e a testabilidade lógica do BIST ao mesmo tempo, melhorando a cobertura do LBIST em 2% a 4%.
Atende ao tempo de teste no sistema
Ao observar os dados do circuito em cada ciclo de turno, não apenas na captura, a Observation Scan Technology (OST) reduz significativamente a contagem de padrões necessária para alcançar a cobertura do teste BIST da lógica alvo.
Aumenta a eficiência do teste
O Tessent Hybrid TK/LBIST combina eficientemente a arquitetura lógica do Tessent TestKompress e do LogicBist para melhorar a qualidade do teste, evitando qualquer penalidade de área, colhendo os benefícios da compressão ATPG e da lógica BIST.
A Infineon reduz o tempo de teste do LBIST para segurança funcional
Nesta apresentação, Daniel Tille, da Infineon, mostra o uso do LogicBist com a tecnologia Observation Scan, que comprovadamente reduz drasticamente o tempo de teste do autoteste lógico integrado (LBIST) para microcontroladores automotivos (MCUs) da Infineon.
