Testes e monitoramento contínuos de dispositivos são necessários para garantir desempenho, confiabilidade e segurança ideais durante toda a operação. O Tessent In-System Test permite a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade para testes no sistema/em campo durante o ciclo de vida do seu chip.
O Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessários para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade e, ao mesmo tempo, reduzir o tempo de teste em comparação com a lógica tradicional BIST.
O teste determinístico no sistema permite que você altere os padrões de teste à medida que novos defeitos e modelos de falhas surgem ou quando o conteúdo do teste precisa mudar.
O controlador de teste no sistema busca dados das interfaces de barramento, acionando internamente a rede de barramento da Streaming Scan Network para aplicar pacotes de dados de digitalização aos núcleos para teste, diminuindo o tempo de teste e melhorando o perfil de energia durante o teste.
Reutiliza a infraestrutura de teste existente no chip para identificar defeitos latentes, intermitentes, aleatórios ou relacionados à idade durante a vida útil do produto, permitindo a reutilização de padrões baseados em IJTAG e SSN para aplicações no sistema.
Oferece os recursos de hardware e software totalmente automatizados necessários para responder ao envelhecimento e aos fatores ambientais que se manifestam como erros silenciosos de dados/corrupção. O conteúdo do teste pode ser alterado à medida que os requisitos do teste evoluem.
Lançado na ITC 2024, o Tessent In-System Test (IST) complementa a Tessent Streaming Scan Network (SSN) e aprimora sua capacidade de ser usado em um ambiente no sistema e em campo, ampliando assim a tecnologia avançada que o Tessent SSN fornece. Os projetistas podem aplicar padrões de teste determinístico incorporado (EDT) gerados usando o software Tessent SSN por meio do barramento SSN diretamente usando o controlador de teste no sistema.
O Tessent In-System Test integra o teste determinístico no sistema (IS-EDT) com a Tessent Streaming Scan Network para permitir que os usuários executem padrões determinísticos no sistema. Embora a demanda por padrões IS-EDT seja crítica no setor automotivo, essa tecnologia também beneficia projetos de data center e rede. Este artigo descreve como o Tessent In-System Test atende às necessidades de testes no sistema e em campo.
Saiba como o uso do software Tessent permite que você se alinhe aos padrões e regulamentações emergentes e, ao mesmo tempo, ofereça um conjunto completo de soluções de ponta a ponta para atender aos requisitos dos desenvolvimentos atuais de IC automotivo.
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