Tessent Diagnosis
Korzystając z danych o awarii z testu produkcyjnego, wzorców testów skanowania i informacji projektowych, Tessent Diagnosis identyfikuje lokalizację i klasyfikację wady powodującej awarię.
Dlaczego Tessent Diagnosis?
Rozwiązanie Tessent Diagnosis identyfikuje rodzaj i lokalizację defektów, tworząc podstawy do analizy wydajności i awarii opartej na diagnozie.
Dokładnie identyfikuj wady i błędy czasowe
Użyj technologii uwzględniającej układ i świadomość komórek, aby określić najbardziej prawdopodobny mechanizm awarii, lokalizację logiczną i lokalizację fizyczną wady.
Diagnoza świadoma komórki
Wykonaj diagnostykę na poziomie tranzystorów, aby zidentyfikować defekty wewnątrz standardowych komórek. Ta funkcja wykorzystuje ten sam model usterki z czujnikiem komórkowym, który jest używany w ATPG obsługującym komórkę i działa z dowolnym typem wzoru.
Diagnostyka łańcucha o wysokiej rozdzielczości
Popraw diagnostykę o > 1,5x w zaawansowanych węzłach procesowych (5 nm i poniżej). Zapewnia dokładną izolację na poziomie tranzystorów w przypadku defektów łańcucha skanowania. Zapewnia precyzyjne izolowanie defektów głębokich punktów.
Koreluj z analizą DFM
Wyniki diagnozy można skorelować z wynikami analizy DFM w celu zidentyfikowania krytycznych cech konstrukcyjnych. Tessent Diagnosis może odczytywać bazy danych wyników (RDB) z Calibre.
Zaufana technologia
Tessent Diagnosis jest liderem na rynku technologii diagnostyki skanów o najwyższym wskaźniku dokładności. Ponad 80% raportów generowanych przy użyciu Tessent Diagnosis zostało potwierdzonych przy użyciu procesu analizy awarii.
Ulepszenia diagnostyki łańcuchowej dzięki technologiom Tessent
Jayant D'Souza, starszy menedżer ds. produktu w Tessent, opowiada o wykorzystaniu technologii diagnostyki łańcuchowej Tessent o wysokiej rozdzielczości w celu poprawy wydajności, aby sprostać wymaganiom rynkowym poprzez znalezienie bardziej systematycznych defektów i poprawę rozdzielczości nawet o 80%.
