Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist to wiodące w branży wbudowane rozwiązanie do testowania cyfrowych komponentów logicznych układów scalonych. Jest to idealne rozwiązanie testowe dla urządzeń o znaczeniu krytycznym dla bezpieczeństwa, takich jak układy scalone stosowane w zastosowaniach motoryzacyjnych i medycznych.
Dlaczego Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist skutecznie integruje się z Tessent MissionMode i Tessent TestKompress, tworząc kompletne rozwiązanie do testów wewnętrznych i produkcyjnych dla urządzeń o znaczeniu krytycznym dla bezpieczeństwa.
Poprawia zasięg testu
Zaprojektowana z myślą o zastosowaniach hybrydowych TK/LBIST technologia punktów testowych Tessent VersaPoint poprawia jednocześnie liczbę wzorców ATPG i logiczną testowalność BIST, poprawiając pokrycie LBIST o 2% -4%.
Spełnia czas testowania w systemie
Obserwując dane obwodu w każdym cyklu przesunięcia, nie tylko podczas przechwytywania, technologia skanowania obserwacyjnego (OST) znacznie zmniejsza liczbę wzorców potrzebnych do osiągnięcia docelowego zasięgu testu BIST logicznego.
Zwiększa wydajność testów
Tessent Hybrid TK/LBIST skutecznie łączy architekturę logiczną Tessent TestKompress i LogicBist, aby poprawić jakość testów przy jednoczesnym unikaniu wszelkich kar terenowych, czerpiąc korzyści zarówno z kompresji ATPG, jak i logicznego BIST.
Infineon skraca czas testu LBIST do bezpieczeństwa funkcjonalnego
W tej prezentacji Daniel Tille z Infineon pokazuje wykorzystanie technologii LogicBist z technologią Observation Scan, która, jak udowodniono, drastycznie skraca czas testu logicznego wbudowanego autotestu (LBIST) dla mikrokontrolerów Infineon Automotive (MCU).
