Konieczne jest ciągłe testowanie i monitorowanie urządzeń, aby zagwarantować optymalną wydajność, niezawodność i bezpieczeństwo podczas ich działania. Tessent In-System Test umożliwia stosowanie wysokiej jakości deterministycznych wzorców testów do testów wewnątrzsystemowych/w terenie podczas cyklu życia chipa.
Tessent In-System Test zapewnia wbudowany sprzęt i niezbędne oprogramowanie, aby umożliwić stosowanie wysokiej jakości deterministycznych wzorców testów przy jednoczesnym skróceniu czasu testu w porównaniu z tradycyjną logiką BIST.
Test deterministyczny w systemie umożliwia zmianę wzorców testów w miarę pojawiania się nowych usterek i modeli błędów lub gdy zmieniają się potrzeby zawartości testu.
Wewnętrzny kontroler testowy pobiera dane z interfejsów magistrali, sterując siecią magistrali Streaming Scan Network wewnętrznie, aby zastosować pakiety danych skanowania do rdzeni w celu testowania, skracając czas testu i poprawiając profil mocy podczas testu.
Ponownie wykorzystuje istniejącą infrastrukturę testową na chipie do zwalczania utajonych, przerywanych, losowych lub związanych z wiekiem wad podczas okresu eksploatacji produktu, umożliwiając ponowne wykorzystanie wzorców opartych na IJTAG i SSN do zastosowań wewnętrznych.
Zapewnia w pełni zautomatyzowane możliwości sprzętowe i programowe potrzebne do reagowania na starzenie się i czynniki środowiskowe, które przejawiają się jako błędy cichych danych/uszkodzenie. Zawartość testu można zmieniać wraz z ewolucją wymagań testowych.
Wprowadzony na targach ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) uzupełnia Tessent Streaming Scan Network (SSN) i zwiększa jego zdolność do stosowania w środowisku wewnętrznym, w terenie, rozszerzając w ten sposób zaawansowaną technologię dostarczaną przez Tessent SSN. Projektanci mogą stosować wbudowane wzorce testów deterministycznych (EDT) generowane przy użyciu oprogramowania Tessent SSN za pośrednictwem magistrali SSN bezpośrednio przy użyciu wewnętrznego kontrolera testowego.
Tessent In-System Test integruje system deterministyczny test (IS-EDT) z siecią skanowania strumieniowego Tessent, aby umożliwić użytkownikom uruchamianie wzorców deterministycznych w systemie. Chociaż zapotrzebowanie na wzorce IS-EDT ma kluczowe znaczenie w przemyśle motoryzacyjnym, technologia ta przynosi również korzyści projektom centrów danych i sieci. W tym artykule przedstawiono, w jaki sposób Tessent In-System Test spełnia potrzeby testów w systemie i w terenie.
Dowiedz się, jak korzystanie z oprogramowania Tessent umożliwia dostosowanie się do nowych standardów i przepisów, oferując jednocześnie kompletny zestaw kompleksowych rozwiązań spełniających wymagania współczesnych rozwiązań układów scalonych w branży motoryzacyjnej.
Dowiedz się więcej o rosnącej roli innowacji w projektowaniu układów scalonych (IC) w transformacji cyfrowej w niniejszym białym dokumencie.
