Skip to main content
Ta strona jest wyświetlana przy użyciu automatycznego translatora. Czy chcesz wyświetlić ją w języku angielskim?

Dlaczego warto korzystać Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test zapewnia wbudowany sprzęt i niezbędne oprogramowanie, aby umożliwić stosowanie wysokiej jakości deterministycznych wzorców testów przy jednoczesnym skróceniu czasu testu w porównaniu z tradycyjną logiką BIST.

Włącza test adaptacyjny

Test deterministyczny w systemie umożliwia zmianę wzorców testów w miarę pojawiania się nowych usterek i modeli błędów lub gdy zmieniają się potrzeby zawartości testu.

Współpracuje z Tessent SSN

Wewnętrzny kontroler testowy pobiera dane z interfejsów magistrali, sterując siecią magistrali Streaming Scan Network wewnętrznie, aby zastosować pakiety danych skanowania do rdzeni w celu testowania, skracając czas testu i poprawiając profil mocy podczas testu.

Ponownie wykorzystuje wzorce testowe

Ponownie wykorzystuje istniejącą infrastrukturę testową na chipie do zwalczania utajonych, przerywanych, losowych lub związanych z wiekiem wad podczas okresu eksploatacji produktu, umożliwiając ponowne wykorzystanie wzorców opartych na IJTAG i SSN do zastosowań wewnętrznych.

Reaguje na ciche błędy danych

Zapewnia w pełni zautomatyzowane możliwości sprzętowe i programowe potrzebne do reagowania na starzenie się i czynniki środowiskowe, które przejawiają się jako błędy cichych danych/uszkodzenie. Zawartość testu można zmieniać wraz z ewolucją wymagań testowych.

Przetestuj wszystko, gdziekolwiek, zawsze

Identyfikuj wady przez cały okres eksploatacji urządzenia. Od wafla do pola, zapewniaj jakość bez defektów i ciągłą niezawodność. Tessent In-System Test oferuje kompleksowe, skalowalne i elastyczne rozwiązanie zapewniające pełną jakość cyklu życia z dostarczaniem testów opartych na HSIO i zaawansowanymi modelami błędów.

Obraz wafla silikonowego z odbijającymi się od niego wieloma odcieniami niebieskiego.

Umożliwianie wysokiej jakości deterministycznych wzorców testów

Wprowadzony na targach ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) uzupełnia Tessent Streaming Scan Network (SSN) i zwiększa jego zdolność do stosowania w środowisku wewnętrznym, w terenie, rozszerzając w ten sposób zaawansowaną technologię dostarczaną przez Tessent SSN. Projektanci mogą stosować wbudowane wzorce testów deterministycznych (EDT) generowane przy użyciu oprogramowania Tessent SSN za pośrednictwem magistrali SSN bezpośrednio przy użyciu wewnętrznego kontrolera testowego.

Korzystanie z wysokiej jakości deterministycznych wzorców testowych

Tessent In-System Test integruje system deterministyczny test (IS-EDT) z siecią skanowania strumieniowego Tessent, aby umożliwić użytkownikom uruchamianie wzorców deterministycznych w systemie. Chociaż zapotrzebowanie na wzorce IS-EDT ma kluczowe znaczenie w przemyśle motoryzacyjnym, technologia ta przynosi również korzyści projektom centrów danych i sieci. W tym artykule przedstawiono, w jaki sposób Tessent In-System Test spełnia potrzeby testów w systemie i w terenie.

świecący mikroczip
centrum danych

Obejrzyj webinarium IST

Obejrzyj seminarium internetowe na żądanie Poprawa jakości testów w systemie dzięki testowi deterministycznemu w systemie.