Osoba stoi przed dużym ekranem z kolorowym abstrakcyjnym wzorem.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan to kompletne rozwiązanie do automatycznego generowania i integracji infrastruktury testowej na chipie, skanowania granicznego i portu dostępu testowego.

Dlaczego Tessent BoundaryScan?

Logika Tessent BoundaryScan jest dostępna przez cały okres eksploatacji układu scalonego, w tym test produkcyjny na wszystkich poziomach opakowania, debugowanie krzemu i weryfikacja systemu w celu wykrycia defektów przed wysyłką, zmniejszając koszty wsparcia w terenie i zwiększając satysfakcję klienta.

Kompletne skanowanie granic i integracja kontrolera TAP

Automatycznie generuje i integruje kod RTL dla kontrolera TAP i komórek skanowania obwiedni z projektowym RTL. Generuje skrypty do syntezy logicznej, symulacyjne stanowiska testowe i wzorce testowe do testów produkcyjnych.

Obsługuje wiele formatów

Skanowanie graniczne Tessent obsługuje niestandardowe komórki skanowania obwiedni IEEE 1149.1 i bezstykowy test we/wy i ma opcję obsługi skanowania obwiedni 1149.6.

Interoperacyjność IEEE 1687 IJTAG

Automatycznie łączy sieci i instrumenty IJTAG z nowo włożonym kontrolerem TAP i generuje powstałe pliki języka połączenia instrumentu. Testy I/O są generowane w formacie PDL (Procedural Description Language).

Dowiedz się więcej

Prezentacja

Skanowanie obwiedni osadzonych Tessent

Ten film pokazuje przepływ implementacji skanowania Tessent Boundary Scan (1149.1) na najwyższym poziomie i Tessent Embedded Boundary Scan na poziomie bloku fizycznego w Tessent Shell.

Schemat płytki drukowanej z kolorowymi blokami i liniami łączącymi reprezentujące elementy elektroniczne i ścieżki.

Konwersja opisu języka skanowania obwiedni

W mniej niż pięć minut film pokazuje, jak można użyć Tessent IJTAG do łatwej konwersji pliku BSDL (Boundary Scan Description Language) na odpowiednik pliku ICL (Instrument Connectivity Language).

Schemat przedstawiający wykorzystanie skanowania obwiedni do automatycznego generowania wzorców testowych.

Przegląd technologii

Korzystanie z łańcucha skanowania granicznego podczas ATPG

Ten film pokazuje wykorzystanie skanowania granicznego jako skompresowanego lub nieskompresowanego łańcucha podczas ATPG, dzięki czemu nie trzeba kontaktować się ze wszystkimi pinami testowanego urządzenia (DUT).

Osoby patrzące na wykres uczenia maszynowego lub głębokiego uczenia

Ścieżka uczenia się

Tessent Training > Zintegrowany przepływ Tessent

Dowiedz się, jak wdrożyć MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion i TestKompress w projekcie, aby uzyskać wysoką jakość testu przy użyciu wielu narzędzi Tessent.