Zautomatyzowany przepływ i obsługa formatu Tessent dla zaawansowanych modeli usterek stanowi unikalne rozwiązanie poprawiające niezawodność wysokowydajnych i złożonych układów scalonych.
Rozwiązuj błędy, które można aktywować tylko za pomocą wzorców funkcjonalnych, aby poprawić ogólne pokrycie wad.
Zwiększ pokrycie usterek poza zakresem modeli uszkodzeń konstrukcyjnych.
Funkcjonalna klasyfikacja usterek pomaga w sprawdzeniu prawidłowego działania i solidności obwodów sygnałów mieszanych, takich jak obwody Bezpieczeństwo i bloki analogowe.
Podczas gdy testowanie oparte na skanowaniu ATPG ma kluczowe znaczenie dla wykrywania usterek strukturalnych niskiego poziomu, klasyfikacja błędów funkcjonalnych pomaga zapewnić zachowanie ogólnej integralności funkcjonalnej urządzenia, a wzorce testów odzwierciedlają warunki, jakich chip będzie doświadczał podczas rzeczywistego użytkowania. To połączenie analizy usterek strukturalnych i funkcjonalnych pomaga zapewnić bardziej kompleksową i solidną strategię testowania.
siemens eda oferuje światowej klasy obsługę klienta Questa One Sim FX i wszystkich naszych produktów.
Akademia Weryfikacji zapewnia umiejętności niezbędne do doskonalenia możliwości procesu weryfikacji funkcjonalnej organizacji, zapewniając metodologiczny pomost między propozycjami wartości wysokiego poziomu a szczegółami niskiego poziomu.
Aby pomóc w zrozumieniu zaawansowanych technologii weryfikacji funkcjonalnej i jak najskuteczniej je stosować, odwiedź nasz blog, aby uzyskać wgląd i aktualizacje na temat koncepcji, wartości, standardów, metodologii i przykładów.
