Tessent YieldInsight
Tessent Yieldinsight analyserer statistisk diagnosedata for å identifisere og skille systematiske avkastningsbegrensere før noen feilanalyse utføres. Tessent YieldInsight er spesialisert for å forstå og identifisere avkastningstap fra skanningstestdata og gjør volumdiagnoseresultater handlingsbare.
Hvorfor Tessent Yieldinsight?
Ved hjelp av spesialiserte datautvinning og statistiske analyseteknikker eliminerer Tessent Yieldinsight støy fra diagnosedata for å bestemme de underliggende årsakene, identifisere systematiske avkastningsbegrensere og velge de beste enhetene for feilanalyse.
Identifiser skjulte avkastningsbegrensere
Tessent Yieldinsight identifiserer årsaken til systematisk avkastningstap og gir veiledning gjennom prosessen med å velge dyser for feilanalyse.
Fjern støy fra diagnoseresultatene
Rotårsaksdekonvolusjonsteknologi (RCD) fjerner støy fra diagnoseresultatene og bestemmer de underliggende årsakene. Den velger og filtrerer populasjoner av sviktende dyser, og grupperer dyser som svikter av lignende årsaker.
Fungerer med Tessent Diagnosis
Analyserer de layout-bevisste og cellebevisste diagnoseresultatene fra Tessent Diagnosis for å identifisere og skille systematiske avkastningsbegrensere før noen feilanalyse utføres, noe som eliminerer behovet for kostbar fysisk lokalisering.
En ny reversibel skannekjedeteknologi
Dette felles webinaret mellom Siemens EDA og Qualcomm er arrangert av ASM International og fremhever:
- Motivasjon for bruk av kjedediagnose i avkastningsrampe
- Oversikt over kjedediagnose, reversibel kjede
- Reversibel kjedeteknologi og diagnose
- Implementering av reversible kjeder
- Silisiumresultater fra testbrikke
