Tessent Diagnosis
Ved hjelp av feildata fra produksjonstest, skanningstestmønstre og designinformasjon identifiserer Tessent Diagnosis plasseringen og klassifiseringen av feilen som forårsaker feilen.
Hvorfor Tessent Diagnosis?
Tessent Diagnosis-løsningen identifiserer typen og plasseringen av defekter, og etablerer grunnlaget for diagnosedrevet avkastning og feilanalyse.
Identifiser feil og tidsfeil nøyaktig
Bruk layout-bevisst og cellebevisst teknologi for å bestemme feilens mest sannsynlige feilmekanisme, logiske plassering og fysiske plassering.
Cellebevisst diagnose
Utfør diagnose på transistornivå for å identifisere feil inne i standardceller. Denne muligheten utnytter den samme cellebevisste feilmodellen som brukes for cellebevisst ATPG og fungerer med alle mønstertyper.
Høyoppløselig kjedediagnose
Forbedre diagnosen med > 1,5x på avanserte prosessnoder (5nm og under). Gir nøyaktig isolasjon på transistornivå for skannekjedefeil. Sikrer at dype punktfeil kan isoleres i presisjon.
Korrelere med DFM-analyse
Diagnoseresultater kan korreleres med DFM-analyseresultater for å identifisere kritiske designfunksjoner. Tessent Diagnosis kan lese resultatdatabaser (RDB) fra Calibre.
Pålitelig teknologi
Tessent Diagnosis er markedsleder innen skannediagnoseteknologi med den høyeste nøyaktighetsgraden. Mer enn 80% av rapportene generert ved hjelp av Tessent Diagnosis er bekreftet ved hjelp av en feilanalyseprosess.
Forbedringer av kjedediagnose med Tessent-teknologier
Jayant D'Souza, Senior Product Manager hos Tessent snakker om å utnytte Tessents høyoppløselige kjedediagnoseteknologi for å forbedre utbyttet for å møte tidsvinduer til markedet ved å finne mer systematiske feil og forbedre oppløsningen med opptil 80%.
