Tessent MemoryBist gir en komplett løsning for hastighetstest, diagnose, reparasjon, feilsøking og karakterisering av innebygde minner. Ved å utnytte en fleksibel hierarkisk arkitektur, kan innebygd selvtest og selvreparasjon integreres i individuelle kjerner så vel som på toppnivå.
Tessent MemoryBist, en bransjeledende innebygd selvtest for minne, inkluderer en unik omfattende automatiseringsflyt som gir kontroll av designregler, testplanlegging, integrasjon og verifisering alt på RTL- eller portnivå.
Tessent MemoryBist ECC forbedrer påliteligheten, forbedrer testkvaliteten og beskytter mot aldringsfeil. De tilpassbare kriteriene for beståt/ikke godkjenning gir en optimal kombinasjon av minneredundans og feilkorrigerende kode.
Tessent MemoryBist NVM gir fleksibel test og reparasjon, reduserer produksjonstestkostnadene og forbedrer påliteligheten. Automatiserte NVM-spesifikke algoritmer muliggjør spesialiserte tilgangsmodi og fungerer med ECC-alternativet. Tilgjengelig. tidlig 26
Den avanserte BAP gir et konfigurerbart grensesnitt for å optimalisere testing i systemet. Den støtter også en protokoll med lav latens for å konfigurere minneBIST-kontrolleren, utføre GO/NoGo-tester og overvåke pass/fail-statusen.
Minnetestalgoritmer kan hardkodes inn i Tessent MemoryBist-kontrolleren, og deretter brukes på hvert minne gjennom kjøretidskontroll. Dette lar deg velge kortere testalgoritmer etter hvert som produksjonsprosessen modnes.
Reparasjonsalternativet Tessent MemoryBist eliminerer kompleksiteten og kostnadene forbundet med eksterne reparasjonsflyter. Den tester og reparerer permanent alle defekte minner i en brikke ved hjelp av praktisk talt ingen eksterne ressurser.
Se Etienne Racine, Tessent Product Manager, snakke om hvordan Tessent MemoryBist kan bidra til å maksimere testkvaliteten, minimere testtiden, forbedre utbyttet og reparere minner med sin fleksible arkitektur.
Lær hvordan bruk av Tessent-programvare gjør det mulig for deg å tilpasse deg nye standarder og forskrifter samtidig som du tilbyr et komplett sett med ende-til-ende-løsninger for å møte kravene til dagens IC-utvikling for bilindustrien.
Denne artikkelen beskriver fordelene ved å bruke en delt bussarkitektur for testing og reparasjon av minner i iPS-kjerner og presenterer automatiseringen som er tilgjengelig i Tessent MemoryBist.
Denne casestudien beskriver hvordan ON Semiconductor brukte den hierarkiske Tessent MemoryBist-flyten for å redusere innsettingstiden for minne BIST med 6X.
