Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist er bransjens ledende innebygde selvtestløsning for testing av digitale logikkomponenter i integrerte kretser. Det er en ideell testløsning for sikkerhetskritiske enheter som IC-er som brukes i bil- og medisinske applikasjoner.
Hvorfor Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist integreres effektivt med Tessent MissionMode og Tessent TestKompress for å skape en komplett testløsning i systemet og produksjonen for sikkerhetskritiske enheter.
Forbedrer testdekningen
Tessent VersaPoint-testpunktsteknologien er konstruert for hybrid TK/LBIST applikasjoner, og forbedrer ATPG-mønsterantall og logisk BIST testbarhet samtidig, og forbedrer LBIST-dekningen med 2% -4%.
Oppfyller testtid i systemet
Ved å observere kretsdata ved hver skiftsyklus, ikke bare i fangst, reduserer Observation Scan Technology (OST) betydelig mønsterantall som trengs for å nå mållogisk BIST testdekning.
Øker testeffektiviteten
Tessent Hybrid TK/LBIST kombinerer effektivt den logiske arkitekturen til Tessent TestKompress og LogicBist for å forbedre testkvaliteten samtidig som du unngår arealstraff, og høster fordelene med både ATPG-komprimering og logisk BIST.
Infineon reduserer LBIST testtid til funksjonell sikkerhet
I denne presentasjonen viser Daniel Tille fra Infineon bruken av LogicBist med Observation Scan Technology, som har vist seg å drastisk redusere logisk innebygd selvtest (LBIST) testtid for Infineon Automotive mikrokontrollere (MCU).
