Skip to main content
Denne siden vises ved hjelp av automatisk oversettelse. Vis på engelsk i stedet?
Person i svart skjorte som står mot hvit vegg, holder en mørk gjenstand med uskarp bakgrunn.
Tessent Advanced DFT

Tessent DefectSim

Tessent DefectSim er en defekt simulator på transistornivå for analoge, blandede signaler (AMS) og ikke-skannede digitale kretser. Den måler feildekning og defekttoleranse og er perfekt for både høyvolum og høy pålitelighet IC-er.

Hvorfor Tessent DefectSim?

Forbedre AMS-sikkerhet, testkvalitet og tid. Tessent DefectSim erstatter manuell testdekningsvurdering i AMS-kretser, genererer objektive data for å veilede forbedringer som trengs for å oppfylle kvalitets- og funksjonelle sikkerhetsstandarder og testdekningsmål.

Analog feilsimulering

Bygget på defektinjeksjonsteknikkene på transistornivå som brukes i TestKompress Cell-Aware ATPG for skannbare digitale kretser, er DefectSIM egnet for industrielle kretsblokker som inneholder hundrevis eller tusenvis av transistorer.

Handlingsbar utdataanalyse

Generer et sammendrag som viser sannsynlighetsvektet defektdekning, konfidensintervall og en matrise som viser hver feil og om den ble oppdaget av en sviktende testgrense eller en digital utgang.

Effektiv simulering

Reduser total simuleringstid dramatisk sammenlignet med simulering av produksjonstester og flatekstraherte layoutnettlister i klassisk SPICE på parallelle CPUer.

Spør en ekspert - Mann og kvinne som har en konsultasjon på et kontor.

Klar til å lære mer om Tessent?

Vi står klar til å svare på spørsmålene dine.

Vi evaluerte Tessent DefectSim på flere bilkretser og konkluderte med at det er en høyautomatisert og fleksibel løsning som veileder forbedringer i test- og design-for-test-teknikker og lar oss målbart forbedre feildekningen av analoge tester.
Wim Double Aers, Direktør for test- og produktteknikk, PÅ halvleder

Lær mer