En person står foran en stor skjerm som viser en fargerik abstrakt design.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan er en komplett løsning for automatisert generering og integrering av on-chip testinfrastruktur, grenseskanning og testtilgangsport.

Hvorfor Tessent BoundaryScan?

Tessent BoundaryScan-logikk er tilgjengelig gjennom hele IC-ens levetid, inkludert produksjonstest på alle pakkenivåer, silisiumfeilsøking og systemverifisering for å oppdage feil før forsendelse, redusere feltstøttekostnader og øke kundetilfredsheten.

Komplett grenseskanning og TAP-kontrollerintegrasjon

Genererer og integrerer automatisk RTL-kode for TAP-kontrolleren og grenseskannecellene i design-RTL. Genererer skript for logisk syntese, simuleringstestbenker og testmønstre for produksjonstest.

Støtter flere formater

Tessent Boundary scan støtter IEEE 1149.1 tilpassede grenseskanneceller og kontaktløs I/O-test og har et alternativ for 1149.6 grenseskanningsstøtte.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilitet

Kobler automatisk IJTAG-nettverk og instrumenter til den nylig innsatte TAP-kontrolleren og genererer resulterende Instrument Connectivity Language-filer. I/O-tester genereres i PDL-format (Procedural Description Language).

Lær mer

Presentasjon

Tessent innebygd grenseskanning

Denne videoen viser implementeringsflyten av Tessent Boundary Scan (1149.1) på toppnivå og Tessent Embedded Boundary Scan på det fysiske blokknivået i Tessent Shell.

Kretskortdiagram med fargede blokker og tilkoblingslinjer som representerer elektroniske komponenter og veier.

Konvertering av språkbeskrivelse for grenseskanning

På mindre enn fem minutter viser videoen hvordan man kan bruke Tessent IJTAG til enkelt å konvertere en BSDL (Boundary Scan Description Language) fil til sin ICL (Instrument Connectivity Language) filekvivalent.

Et diagram som viser bruken av grenseskanning for automatisk generering av testmønster.

Teknologioversikt

Bruk av grenseskanningskjede under ATPG

Denne videoen demonstrerer bruken av grenseskanning som komprimert eller ukomprimert kjede under ATPG, slik at alle pinnene til enheten under test (DUT) ikke trenger å kontaktes.

Folk som ser på maskinlæring eller dyp læringsdiagram

Læringsvei

Tessent-trening > Tessent integrert flyt

Lær hvordan du implementerer MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion og TestKompress i designet ditt for å oppnå høy testkvalitet ved hjelp av flere Tessent-verktøy.