Skip to main content
Denne siden vises ved hjelp av automatisk oversettelse. Vis på engelsk i stedet?
AnalogTest mikrobrikke.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest reduserer utvikling og verifisering av analoge testmønstre fra ingeniørmåneder til ingeniørtimer. Som den eneste kommersielle løsningen som er tilgjengelig for øyeblikket, er det den mest effektive måten å maksimere feildekning samtidig som testkostnadene reduseres.

Hvorfor Tessent AnalogTest?

Testing av analoge kretser har tradisjonelt vært en kjedelig, manuell prosess. Tessent AnalogTest muliggjør 10x-100x reduksjon i silisiumanalog testtid sammenlignet med tradisjonelle spesifikasjonstester.

Reduser testkostnadene

Analog testing krever lange testtider på dyre blandede signaltestere. Tessent AnalogTest genererer DFT-kretser med minimal innvirkning og digitale testmønstre for å teste analog kretsblokk på <1 ms på kun digitale testere.

Øk ingeniøreffektiviteten

Tessent AnalogTest forvandler analog DFT og testutvikling til en rask, automatisert prosess. Strukturelle tester og spesifikasjonstester verifiseres i simulering før de kjøres på ATE eller i systemet, noe som reduserer feilsøkingstiden.

Maksimer analog testdekning

Spesifikasjonstesting av analoge kretser kan ha lavere testdekning for å minimere avkastningstap. Digital skannebasert DFT og ATPG kan gi simulerte testmønstre som oppnår høyere feildekning uten å øke avkastningstapet.

Spør en ekspert - Mann og kvinne som har en konsultasjon på et kontor.

Klar til å lære mer om Tessent?

Vi står klar til å svare på spørsmålene dine.

Reduser tiden til markedet med Tessent AnalogTest-dekning

Finn ut hvordan du minimerer produksjonstestrømmer for analoge og blandede signalkretser og forbedrer produktets tid til markedet med Tessent AnalogTest.