Hvorfor Tessent AnalogTest?
Testing av analoge kretser har tradisjonelt vært en kjedelig, manuell prosess. Tessent AnalogTest muliggjør 10x-100x reduksjon i silisiumanalog testtid sammenlignet med tradisjonelle spesifikasjonstester.
Reduser testkostnadene
Analog testing krever lange testtider på dyre blandede signaltestere. Tessent AnalogTest genererer DFT-kretser med minimal innvirkning og digitale testmønstre for å teste analog kretsblokk på <1 ms på kun digitale testere.
Øk ingeniøreffektiviteten
Tessent AnalogTest forvandler analog DFT og testutvikling til en rask, automatisert prosess. Strukturelle tester og spesifikasjonstester verifiseres i simulering før de kjøres på ATE eller i systemet, noe som reduserer feilsøkingstiden.
Maksimer analog testdekning
Spesifikasjonstesting av analoge kretser kan ha lavere testdekning for å minimere avkastningstap. Digital skannebasert DFT og ATPG kan gi simulerte testmønstre som oppnår høyere feildekning uten å øke avkastningstapet.
Reduser tiden til markedet med Tessent AnalogTest-dekning
Finn ut hvordan du minimerer produksjonstestrømmer for analoge og blandede signalkretser og forbedrer produktets tid til markedet med Tessent AnalogTest.

