Optimaliser sikkerheten

Få deterministisk skanningstest av høyeste kvalitet med de laveste produksjonstestkostnadene, ved hjelp av patentert komprimering på brikken for å redusere testdatavolumet og redusere testtiden.

Reduser utviklingstiden for design for testbarhet (DFT) og produksjonstestkostnader ved å koble fra DFT-krav på kjernenivå og chip-nivå.

Drift en intelligent, funksjonell overvåkings- og analyseinfrastruktur for system-on-chip (SoC) med silisiumimmateriell eiendom (IP) og programvare.

Gir automatisering og integrasjon for IEEE 1687 IJTAG-kompatibel test og instrumentering IP fra forskjellige kilder til en IC-design.

Sørg for ISO26262-samsvar med den ideelle logiske innebygde selvtestløsningen for sikkerhetskritiske enheter som IC-er som brukes i bil- og medisinske applikasjoner.

Sørg for kvalitet, bedre sikkerhet, optimaliser ytelsen og øk påliteligheten ved å legge inn små moduler direkte i system-on-chip (SoC), slik at du kan observere hva som skjer i designet ditt uten påtrengende innhold.

Les hvordan et økende antall standarder og forskrifter innen biløkosystemet lover å spare utviklingskostnader ved å avverge nettangrep.

Få en oppsummering av AESIN og se videoen vår om våre Secure-CAV-resultater.