Tessent produkter

Tessent AnalogTest reduserer utvikling og verifisering av analoge testmønstre fra ingeniørmåneder til ingeniørtimer. Det er den mest effektive måten å maksimere feildekning samtidig som testkostnadene reduseres.

Tessent In-System Test gir innebygd maskinvare og nødvendig programvare for å muliggjøre anvendelse av deterministiske testmønstre av høy kvalitet samtidig som testtiden reduseres sammenlignet med tradisjonell logikk BIST.

Lever deterministisk skanningstest av høyeste kvalitet med de laveste produksjonstestkostnadene, ved hjelp av patentert komprimering på brikken for å redusere testdatavolumet og redusere testtiden.

Automatiser generering og innsetting av IEEE 1838-kompatibel maskinvare og definer IEEE-testtilgangsarkitekturen for 3D-stablede integrerte kretser.

Reduser DFT-utviklingstid og produksjonstestkostnader ved å koble fra DFT-krav på kjernenivå og chip-nivå med Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Aktiver omfattende automatisering og integrering av test, reparasjon, feilsøking og karakterisering av innebygde minner med Tessent MemoryBIST.

Aktiver ISO 26262-samsvar med den ideelle logiske innebygde selvtestløsningen for sikkerhetskritiske enheter som IC-er som brukes i bil- og medisinske applikasjoner.

Kombiner automatisering og IP på brikken for å muliggjøre IC-test og diagnose når som helst under kjøretøyets funksjonelle drift - et grunnleggende krav i ISO 26262-standarden.

Reduser DFT-implementeringsinnsatsen med en optimal automatisering av Tessent Platform flyt for hierarkisk DFT.

Forbedre testkomprimeringsnivåene opp til 4X, aktiver hierarkisk DFT, logisk BIST-beredskap og skanneinnsetting med Tessent ScanPro.

Effektiviser et bredt spekter av kritiske DFT-oppgaver med denne nye programvaren utviklet for IC-designteam.

Forenkle prosessen med å generere kompakte testsett med høy dekning. Evnen til Tessent FastScan som brukes på de fleste typer design, gjør den til den mest allsidige ATPG-løsningen tilgjengelig.

Gi automatisering og integrasjon for IEEE 1687 IJTAG-kompatibel test og instrumentering IP fra forskjellige kilder til en IC-design.

Automatiser tillegget av IEEE 1149.1 standard grenseskanningsstøtte til IC-er av alle størrelser og kompleksitet, noe som reduserer utviklingsinnsatsen og forbedrer tiden til markedet.

Simulere defekter på transistornivå for analoge, blandede signaler og digitale kretser uten skanning, og automatiserer dekningsvurdering for å bidra til å oppfylle kvalitetsstandarder som ISO 26262.

Bruk layout-bevisste og cellebevisste diagnoseteknologier for nøyaktig å klassifisere og identifisere plasseringen av feil som forårsaker feil under produksjonstester.

Fremskynde testoppføring, feilsøking og silisiumkarakterisering av enheter som inneholder Tessent ATPG, EDT, BIST og/eller IJTAG teststrukturer i et automatisert interaktivt miljø.

Eliminer støy fra diagnosedata for å bestemme de underliggende årsakene, identifisere systematiske avkastningsbegrensere og velge de beste enhetene for feilanalyse.

Ende-til-ende RISC-V-feilsøkings- og sporingsløsning bestående av innebygd IP og programvare designet for å gi omfattende, effektive feilsøkings- og sporingsfunksjoner.

Fremskynde feilsøking, validering og optimalisering av komplekse flerkjerners SoC-er. Utnytt innebygd, ikke-påtrengende instrumentering for å tillate observasjon av hva som skjer i designet når programvare kjører på systemet.

Tillat applikasjonsprogramvare som kjører på en SoC å overvåke driften effektivt. Tillat at produkter suksessivt raffineres og optimaliseres basert på data samlet i virkeligheten - ikke bare i laboratoriet.

Sikre den høyeste produksjonstestkvaliteten med Tessent-løsninger. Maksimer antall oppdagede fysiske feil i din null-defekt testløsning.

Reduser risikoen og oppfyll de nødvendige sikkerhetsstandardene med omfattende systemtester og feilgraderingsløsninger, slik at produktet ditt er fullt kompatibelt for de sikkerhetskritiske applikasjonene det er designet for.

Implementere en omfattende sikkerhetsløsning for IC-produktet ditt, adressering av autentisering, kommunikasjon, beskyttelse og enhetslivssyklusadministrasjon på tvers av test, funksjonell drift og sikkerhet på systemnivå.

Diagnostiser og analyser feil- og avkastningsdata på individuelle kundeavkastninger eller volumproduksjonsdata. Få verdifull tilbakemelding om design og prosess for å forbedre påliteligheten til fremtidige prosesser og design.