
Calibre EUV
attende støtte for å adressere de unike utfordringene med EUV med høy NA, for eksempel anamorfisk optikk og maske 3D-modellering for å ta hensyn til skyggeeffekter.
Den umettelige etterspørselen etter integrerte kretser (IC) fortsetter å drive mindre kritiske dimensjoner. Fotolitografiprosesser, inkludert ekstrem ultrafiolett (EUV), presenterer stadig mer kompleksitet og datavolum. Våre beregningslitografiløsninger muliggjør kostnadseffektiv teknologiaktivering.
Både de litografiske utfordringene og beregningskompleksiteten knyttet til avanserte prosessnoder skaper et behov for avanserte evner innen databehandlingslitografiprogramvare og maskinvare. Calibre-løsningen gir klassens beste nøyaktighet, hastighet og eierkostnader.

Tett optisk nærhet og prosesskorreksjon for å muliggjøre dyp submikronproduksjon.
etter inn underoppløsningsassistentfunksjoner (SRAF-er) i et design.
Kraftig full-chip simulering og litografisk analyse.

GUI brukes til å starte et bredt utvalg av applikasjoner og for å se resultater.

vært skalerbar kalibreringsmotor for optiske modeller, motstandsmodeller og etsmodeller.
Rask, invers pikselbasert optisk nærhetskorreksjon.
Enkel å bruke GUI for optimalisering av belysningskilde.