Tessent Diagnosis
Aan de hand van foutgegevens van productietests, scantestpatronen en ontwerpinformatie identificeert Tessent Diagnosis de locatie en classificatie van het defect dat de storing heeft veroorzaakt.
Waarom Tessent Diagnosis?
De Tessent Diagnosis oplossing identificeert het type en de locatie van defecten, waarmee de basis wordt gelegd voor diagnosegestuurde analyse van opbrengsten en storingen.
Defecten en timingfouten nauwkeurig identificeren
Gebruik technologie die zich bewust is van de indeling en de cellen om het meest waarschijnlijke storingsmechanisme, de logische locatie en de fysieke locatie van een defect te bepalen.
Celbewuste diagnose
Voer een diagnose op transistorniveau uit om defecten in standaardcellen te identificeren. Deze mogelijkheid maakt gebruik van hetzelfde celbewuste foutmodel dat wordt gebruikt voor celbewuste ATPG en werkt voor elk patroontype.
Ketendiagnose met hoge resolutie
Verbeter de diagnose met meer dan 1,5x op geavanceerde procesknooppunten (5 nm en lager). Zorgt voor nauwkeurige isolatie op transistorniveau voor defecten in de scanketen. Zorgt ervoor dat diepe puntdefecten nauwkeurig kunnen worden geïsoleerd.
Correleer met DFM-analyse
De resultaten van de diagnose kunnen worden gecorreleerd met de resultaten van DFM-analyses om kritieke ontwerpkenmerken te identificeren. Tessent Diagnosis kan resultatendatabases (RDB) van Calibre lezen.
Vertrouwde technologie
Tessent Diagnosis is marktleider op het gebied van scandiagnosetechnologie met de hoogste nauwkeurigheid. Meer dan 80% van de meldingen die met Tessent Diagnosis zijn gegenereerd, is bevestigd met behulp van een foutanalyseproces.
Verbeteringen in de ketendiagnose met Tessent-technologieën
Jayant D'Souza, Senior Product Manager bij Tessent, vertelt over het gebruik van de ketendiagnosetechnologie met hoge resolutie van Tessent om de opbrengst te verbeteren om aan de time-to-market te voldoen door systematischere defecten te vinden en de resolutie met wel 80% te verbeteren.
