Skip to main content
Deze pagina wordt weergegeven met behulp van automatische vertaling. In plaats daarvan in het Engels bekijken?
zijaanzicht van de chip aan boord met blauwe achtergrond
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Voer geïntegreerde deterministische scantest van de hoogste kwaliteit uit met de laagste productietestkosten met behulp van Tessent TestKompress.

Waarom Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, een toonaangevende tool voor het testen van scans, maakt gebruik van geïntegreerde deterministische testtechnologie om de hoogste testkwaliteit te bereiken en tegelijkertijd scanpatronen te comprimeren, vaak 100x of meer.

Hoogste dekking voor defecten

TestKompress ondersteunt alle traditionele foutmodellen die worden gebruikt voor het ontdekken van zowel statische als dynamisch geactiveerde defecten. Ondersteuning voor door de gebruiker gedefinieerde foutmodellen maakt het ook mogelijk om vrijwel elk defectmechanisme te modelleren en aan te pakken.

Volledig geautomatiseerd

TestKompress biedt uitgebreide automatiserings-, op TCL gebaseerde scripting en introspectiemogelijkheden. Om de doorvoer te maximaliseren, kan de automatische generatie van testpatronen (ATPG) over meerdere processors worden verdeeld.

Kortere testtijd en minder aantal patronen

Tessent TestKompress is gebaseerd op de gepatenteerde Embedded Deterministic Test-technologie (EDT) en vermindert zowel de testtijd als het patroonvolume met verschillende ordes van grootte zonder verlies van foutdekking.

Vraag het aan een expert: man en vrouw hebben een consult op kantoor.

Klaar om meer te weten te komen over Tessent?

We staan klaar om uw vragen te beantwoorden.

Meer informatie