Verbeter de testbaarheid van ontwerpen, verminder het aantal patronen en minimaliseer onderbrekingen in de RTL2GDSII-ontwerpstromen met geavanceerde DFT-functies in Tessent RTL Pro. Bewerk en schrijf RTL met behoud van de look en feel van wat er is ingelezen, zodat wijzigingen tussen vóór en na de DFT ingevoegde ontwerpen eenvoudig kunnen worden vergeleken.
Bouw voort op de bewerkingsmogelijkheden van Tessent RTL met RTL Pro, waarmee ontwerpers geavanceerde tools kunnen gebruiken om hun shift naar links voort te zetten, waardoor VersaPoint- en LBIST-OST-testpunten kunnen worden ingevoegd in de ontwerp-RTL.
Blijf synthese- en verificatietools van derden gebruiken om de toegevoegde DFT-logica tijdens de synthese te optimaliseren, zodat alleen de scaninvoer op poortniveau hoeft te worden uitgevoerd. De logica die is ingevoegd is RTL; het ontwerp van de uitvoer blijft RTL.
Voeg x-bounding- en VersaPoint-testpunttechnologie toe aan de ontwerp-RTL om de dekking te verbeteren en het aantal patronen te verminderen.
Gebruik dezelfde RTL voor synthese en verificatie om de prestaties te verbeteren en de ontwerptijd te verkorten. Door RTL met een test te schrijven, kunnen synthesetools worden gebruikt om de DFT-logica te optimaliseren. Verificatietools werken sneller in combinatie met RTL.
Automatiseer de analyse en invoeging van testpunten, wikkelcellen en x-begrenzingslogica eerder in de ontwerpflow, op RTL-niveau. Tessent RTL Pro verwerkt complexe Verilog- en SystemVerilog-constructies en behoudt de uitstraling van het originele RTL-ontwerp. De resulterende RTL-output vereenvoudigt de stroom van downstream-tools, waardoor synthese rekening houdt met de testlogica die aan het ontwerp is toegevoegd.
Tessent RTL Pro bouwt voort op de toonaangevende DFT-tools van Tessent door unieke functionaliteit te bieden die klanten helpt de doorlooptijd van ontwerpen te verkorten en de time-to-market te versnellen. Meer informatie over hoe u dat doet, vindt u in deze whitepaper.
Missiekritieke toepassingen in markten zoals transport en medische apparatuur vereisen een hogere algemene kwaliteit van de productietests, maar dat betekent vaak meer testpatronen, datavolume en langere testtijden.
Om concurrerend te zijn in de huidige halfgeleidermarkt, moeten geïntegreerde, schaalbare en flexibele oplossingen worden toegepast om de implementatietijd van DFT, de testkosten en de time-to-market te verkorten.
De uitvoering van de meest uitdagende DFT-taken wordt vereenvoudigd door de beproefde en algemeen aanvaarde automatisering die beschikbaar is in de producten van Tessent. Deze whitepaper beschrijft de basiscomponenten van een op RTL gebaseerde hiërarchische DFT-methodologie.
