Skip to main content
Deze pagina wordt weergegeven met behulp van automatische vertaling. In plaats daarvan in het Engels bekijken?
grote chip aan boord met koperen en groene achtergrond
Tessent Advanced DFT

Tessent MemoryBist

Tessent MemoryBist biedt een complete oplossing voor het snel testen, diagnosticeren, repareren, debuggen en karakteriseren van ingebedde geheugens. Door gebruik te maken van een flexibele hiërarchische architectuur kunnen ingebouwde zelftests en zelfherstel zowel in afzonderlijke kernen als op het hoogste niveau worden geïntegreerd.

Waarom Tessent MemoryBist?

Tessent MemoryBist, een toonaangevende ingebouwde zelftest in het geheugen, omvat een unieke uitgebreide automatiseringsstroom die zorgt voor controle van ontwerpregels, testplanning, integratie en verificatie, allemaal op RTL- of poortniveau.

Geheugenreparatie op basis van ECC

Tessent MemoryBist ECC verhoogt de betrouwbaarheid, verbetert de testkwaliteit en beschermt tegen verouderingsdefecten. De aanpasbare pass/fail-criteria maken een optimale combinatie mogelijk van geheugenredundantie en foutcorrigerende code.

Niet-vluchtige geheugentoepassing

Tessent MemoryBist NVM biedt flexibele tests en reparaties, verlaagt de kosten voor productietests en verhoogt de betrouwbaarheid. Geautomatiseerde NVM-specifieke algoritmen maken gespecialiseerde toegangsmodi mogelijk en werken met de ECC-optie. Beschikbaar. Begin 26

Geavanceerde BIST-toegangspoort

De geavanceerde BAP biedt een configureerbare interface om testen in het systeem te optimaliseren. Het ondersteunt ook een protocol met lage latentie om de BIST-geheugencontroller te configureren, Go/NoGo-tests uit te voeren en de pass/fail-status te controleren.

Programmeerbaarheid van het algoritme

Algoritmen voor geheugentests kunnen hard worden gecodeerd in de Tessent MemoryBist controller en vervolgens via de runtime-regeling op elk geheugen worden toegepast. Zo kunt u kortere testalgoritmen selecteren naarmate het productieproces vordert.

Zelfreparatie op de chip die bewust werkt op de chip

De reparatieoptie Tessent MemoryBist elimineert de complexiteit en kosten die gepaard gaan met externe reparatiestromen. Het test en repareert permanent alle defecte geheugens in een chip met vrijwel geen externe bronnen.

Maximaliseer de testkwaliteit met Tessent MemoryBist

Kijk hoe Etienne Racine, productmanager van Tessent, vertelt hoe Tessent MemoryBist met zijn flexibele architectuur kan helpen de testkwaliteit te maximaliseren, de testtijd te minimaliseren, de opbrengst te verbeteren en het geheugen te repareren.

Vraag het aan een expert: man en vrouw hebben een consult op kantoor.

Klaar om meer te weten te komen over Tessent?

We staan klaar om uw vragen te beantwoorden.

Meer informatie