Tessent MemoryBist biedt een complete oplossing voor het snel testen, diagnosticeren, repareren, debuggen en karakteriseren van ingebedde geheugens. Door gebruik te maken van een flexibele hiërarchische architectuur kunnen ingebouwde zelftests en zelfherstel zowel in afzonderlijke kernen als op het hoogste niveau worden geïntegreerd.
Tessent MemoryBist, een toonaangevende ingebouwde zelftest in het geheugen, omvat een unieke uitgebreide automatiseringsstroom die zorgt voor controle van ontwerpregels, testplanning, integratie en verificatie, allemaal op RTL- of poortniveau.
Tessent MemoryBist ECC verhoogt de betrouwbaarheid, verbetert de testkwaliteit en beschermt tegen verouderingsdefecten. De aanpasbare pass/fail-criteria maken een optimale combinatie mogelijk van geheugenredundantie en foutcorrigerende code.
Tessent MemoryBist NVM biedt flexibele tests en reparaties, verlaagt de kosten voor productietests en verhoogt de betrouwbaarheid. Geautomatiseerde NVM-specifieke algoritmen maken gespecialiseerde toegangsmodi mogelijk en werken met de ECC-optie. Beschikbaar. Begin 26
De geavanceerde BAP biedt een configureerbare interface om testen in het systeem te optimaliseren. Het ondersteunt ook een protocol met lage latentie om de BIST-geheugencontroller te configureren, Go/NoGo-tests uit te voeren en de pass/fail-status te controleren.
Algoritmen voor geheugentests kunnen hard worden gecodeerd in de Tessent MemoryBist controller en vervolgens via de runtime-regeling op elk geheugen worden toegepast. Zo kunt u kortere testalgoritmen selecteren naarmate het productieproces vordert.
De reparatieoptie Tessent MemoryBist elimineert de complexiteit en kosten die gepaard gaan met externe reparatiestromen. Het test en repareert permanent alle defecte geheugens in een chip met vrijwel geen externe bronnen.
Kijk hoe Etienne Racine, productmanager van Tessent, vertelt hoe Tessent MemoryBist met zijn flexibele architectuur kan helpen de testkwaliteit te maximaliseren, de testtijd te minimaliseren, de opbrengst te verbeteren en het geheugen te repareren.
Ontdek hoe u met Tessent-software kunt voldoen aan nieuwe normen en voorschriften en tegelijkertijd een complete reeks oplossingen kunt bieden om te voldoen aan de vereisten van de huidige IC-ontwikkelingen in de automobielsector.
Dit artikel beschrijft de voordelen van het gebruik van een gedeelde busarchitectuur voor het testen en repareren van geheugens in iPS-kernen en presenteert de automatisering die beschikbaar is in Tessent MemoryBist.
In deze casestudy wordt beschreven hoe ON Semiconductor de hiërarchische Tessent MemoryBIST-flow heeft gebruikt om de BIST-invoegtijd van het geheugen met 6x te verkorten.
