Tessent LogicBist
Tessent LogicBist is de toonaangevende ingebouwde zelftestoplossing in de sector voor het testen van de digitale logische componenten van geïntegreerde schakelingen. Het is een ideale testoplossing voor veiligheidskritieke apparaten, zoals IC's die worden gebruikt in automobiel- en medische toepassingen.
Waarom Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist kan efficiënt worden geïntegreerd met Tessent MissionMode en Tessent TestKompress om een complete testoplossing in het systeem en in de productie te creëren voor apparaten die cruciaal zijn voor de veiligheid.
Verbetert de testdekking
De Tessent VersaPoint-testpunttechnologie is ontworpen voor hybride TK/LBIST-toepassingen en verbetert tegelijkertijd het aantal ATPG-patronen en de logische BIST-testbaarheid, waardoor de LBIST-dekking met 2%-4% wordt verbeterd.
Voldoet aan de testtijd in het systeem
Door de circuitgegevens bij elke ploegendienst te observeren, niet alleen bij het vastleggen, vermindert de Observation Scan Technology (OST) het aantal patronen aanzienlijk dat nodig is om de BIST-testdekking van de doellogica te bereiken.
Verhoogt de efficiëntie van de tests
Tessent Hybrid TK/LBIST combineert op efficiënte wijze de logische architectuur van Tessent TestKompress en LogicBist om de testkwaliteit te verbeteren en tegelijkertijd gebiedsstraffen te vermijden, waarbij de vruchten worden geplukt van zowel ATPG-compressie als logische BIST.
Infineon verkort de LBIST-testtijd tot functionele veiligheid
In deze presentatie toont Daniel Tille van Infineon het gebruik van LogicBist met Observation Scan-technologie, waarvan is bewezen dat het de testtijd voor de ingebouwde logische zelftest (LBIST) voor Infineon Automotive-microcontrollers (MCU's) drastisch verkort.
