Apparaten moeten voortdurend worden getest en gecontroleerd om optimale prestaties, betrouwbaarheid en veiligheid tijdens hun werking te garanderen. Met Tessent In-System Test kunnen deterministische testpatronen van hoge kwaliteit worden toegepast voor testen in het systeem/in het veld gedurende de levenscyclus van uw chip.
Tessent In-System Test levert de ingebouwde hardware en de benodigde software om deterministische testpatronen van hoge kwaliteit toe te passen en tegelijkertijd de testtijd te verkorten in vergelijking met traditionele logische BIST.
Met deterministische tests in het systeem kunt u testpatronen wijzigen als er nieuwe defecten en foutmodellen verschijnen of als de inhoud van de test moet veranderen.
De testcontroller in het systeem haalt gegevens op van businterfaces, stuurt het Streaming Scan Network-busnetwerk intern aan om scandatapakketten toe te passen op kernen om te testen, waardoor de testtijd wordt verkort en het stroomprofiel tijdens de test wordt verbeterd.
Hergebruikt de bestaande testinfrastructuur op de chip om latente, intermitterende, willekeurige of leeftijdsgerelateerde defecten aan te pakken tijdens de levensduur van het product door hergebruik mogelijk te maken van op IJTAG en SSN gebaseerde patronen voor toepassingen binnen het systeem.
Biedt volledig geautomatiseerde hardware- en softwaremogelijkheden die nodig zijn om te reageren op veroudering en omgevingsfactoren die zich uiten in de vorm van stille gegevensfouten/corruptie. Testinhoud kan worden gewijzigd naarmate de testvereisten veranderen.
Tessent In-System Test (IST) werd gelanceerd op ITC 2024 en vormt een aanvulling op het Tessent Streaming Scan Network (SSN) en verbetert de mogelijkheid om te worden gebruikt in een omgeving binnen het systeem en in het veld, waardoor de geavanceerde technologie die Tessent SSN biedt, wordt uitgebreid. Ontwerpers kunnen ingebedde deterministische testpatronen (EDT) die zijn gegenereerd met behulp van de SSN-software van Tessent via de SSN-bus rechtstreeks toepassen met behulp van de testcontroller in het systeem.
Tessent In-System Test integreert deterministische tests in het systeem (IS-EDT) met het Tessent Streaming Scan Network om gebruikers in staat te stellen deterministische patronen in het systeem uit te voeren. Hoewel de vraag naar IS-EDT-patronen van cruciaal belang is in de automobielindustrie, komt deze technologie ook ten goede aan de ontwerpen van datacenters en netwerken. In dit artikel wordt beschreven hoe Tessent In-System Test voldoet aan de behoeften voor testen in het systeem en in het veld.
Ontdek hoe u met Tessent-software kunt voldoen aan nieuwe normen en voorschriften en tegelijkertijd een complete reeks oplossingen kunt bieden om te voldoen aan de vereisten van de huidige IC-ontwikkelingen in de automobielsector.
Ontdek meer over de groeiende rol van ontwerpinnovatie voor geïntegreerde schakelingen (IC) in digitale transformatie in dit witboek.
