Kwaliteit garanderen

Voer een deterministische scantest van de hoogste kwaliteit uit tegen de laagste productietestkosten, met behulp van gepatenteerde compressie op de chip om het volume van de testgegevens te verminderen en de testtijd te verkorten.

Verminder de ontwikkelingstijd van het ontwerp voor testbaarheid (DFT) en de kosten van productietests door de DFT-vereisten op kernniveau en op chipniveau los te koppelen.

De kwaliteitsbeperkingen van traditionele DFT-methodologieën overwinnen. Richt u op defecten in IC's op transistor- en verbindingsniveau met onze automatische testpatroongeneratie (ATPG) van automobielkwaliteit.

Zorg voor uitgebreide automatisering en integratie van testen, repareren, debuggen en karakteriseren van ingebedde geheugens.

Voldoe aan de vereisten van IC's voor de snelgroeiende markt voor auto-elektronica en aan de eisen van nieuwe markten en technologieën.

Simuleer defecten op transistorniveau voor analoge, gemengde en niet-gescande digitale circuits. Voldoe aan kwaliteitsnormen zoals ISO26262 met een geautomatiseerde beoordeling van de dekking.

Lee Harrison, directeur productmarketing voor Tessent, spreekt in dit interview met Electronics Weekly over bussen van Streaming Scan Network (SSN) en de volgende generatie technologie die ontworpen is om te testen.

Meer informatie over trends op het gebied van cyberveiligheid en beveiliging in de automobielsector en de toekomst van de beveiliging van mobiliteitstechnologie. Ontdek hoe Siemens EDA een slimme keuze is voor autobedrijven binnen het ecosysteem.

Zorg voor kwaliteit, verhoog de veiligheid, optimaliseer de prestaties en verhoog de betrouwbaarheid door kleine modules rechtstreeks in uw systeem-op-chip (SoC) in te bouwen, zodat u zonder opdringerig kunt observeren wat er in uw ontwerp gebeurt.

Lees hoe een groeiend aantal normen en voorschriften binnen het ecosysteem van de automobielsector veelbelovend is om ontwikkelingskosten te besparen door cyberaanvallen af te weren.