Evenementen in Tessent

Ontdek hoe digitale scantests en ATPG kunnen worden toegepast op A/MS-circuits, om een hoge defectdekking te bereiken en de testtijd tot een minimum te beperken, met ordes van grootte.

Ontdek hoe geïntegreerde software, die draait op doelsilicium, een superieur alternatief kan zijn voor het verkrijgen van meer inzichten uit on-chip monitoren en debugstructuren voor analyse en optimalisatie.

Dit webinar introduceert het Tessent Streaming Scan Network (SSN), een DFT-oplossing die de planning en implementatie van DFT aanzienlijk vereenvoudigt en versnelt door middel van automatisering en plug-&-play-methoden om een snelle time-to-market mogelijk te maken.

Peter Shields, productmanager, Tessent, geeft deskundig inzicht in de RISC-V-tracestandaard en laat zien hoe de implementatie van de standaard helpt om de risico's van de invoering van RISC-V te verminderen.

Mis dit webinar niet, waarin de nieuwe Tessent Multi-DIE-software wordt geïntroduceerd en gedemonstreerd, die uitgebreide automatisering biedt voor de zeer complexe DFT-taken die verband houden met de nieuwste 2.5D- en 3D IC-ontwerpen.

Ontdek hoe u het hoofd kunt bieden aan de uitdagingen die veiligheidskritieke ADAS-systemen voor halfgeleiderontwerpers stellen om te voldoen aan de functionele veiligheidseisen die zijn vastgelegd in de ISO 26262-norm.

Neem deel aan dit webinar en ontdek hoe Tessent SiliconInsight de uitdagingen van de introductie van silicium oplost voor een betere rendementsverhoging en een betere time-to-market.

Bekijk dit webinar op aanvraag van technologen van Siemens en PDF Solutions om meer te weten te komen over onze geïntegreerde, uitgebreide totaaloplossing die analyses, scandiagnose en machine learning omvat.

Nieuwe methoden en hulpmiddelen voor SoC DFT kunnen de problemen die ontstaan door technologie, ontwerp en schaalvergroting van het systeem vereenvoudigen. Leer hoe u risico's kunt beperken en de time-to-market kunt verbeteren met een meer voorspelbare en betrouwbare DFT-oplossing.

Bekijk dit webinar op elk gewenst moment over het effectief aanpakken van de uitdaging om verbonden en autonome voertuigen te beveiligen.

Luister naar de leiders in het veld die technische uitdagingen bespreken bij het ontwerpen van AI-chips. Gajinder Panesar, Siemens Fellow, vertelt over de waarde van Embedded Analytics om AI- en ML-chips te helpen hun potentieel te bereiken.

Optimaliseer de SoC-prestaties en voer voorspellend onderhoud uit in het veld. Een diepgaande aanpak voor gegevensmonitoring biedt radicale verbeteringen op het gebied van time-to-revenue, productkwaliteit, betrouwbaarheid en veiligheid, en winstgevendheid.

Bekijk dit webinar op aanvraag om meer te weten te komen over omkeerbare scanketentechnologie en hoe deze de diagnostische resolutie met 4x verbeterde in een industriële casestudy.