Tessent Diagnosis
Izmantojot kļūmju datus no ražošanas testa, skenēšanas testa modeļus un dizaina informāciju, Tessent Diagnosis identificē defekta atrašanās vietu un klasifikāciju, kas izraisa kļūmi.
Kāpēc Tessent Diagnosis?
Tessent Diagnosis risinājums identificē defektu veidu un atrašanās vietu, izveidojot pamatu diagnozes vadītai ražas un kļūmju analīzei.
Precīzi identificējiet defektus un laika kļūdas
Izmantojiet izkārtojuma un šūnu apzināšanas tehnoloģiju, lai noteiktu defekta visticamāko kļūmes mehānismu, loģisko atrašanās vietu un fizisko atrašanās vietu.
Šūnu apzināta diagnoze
Veiciet tranzistora līmeņa diagnozi, lai identificētu defektus standarta šūnās. Šī spēja izmanto to pašu šūnu apzināšanās kļūdas modeli, ko izmanto šūnu apzinātam ATPG, un tas darbojas ar jebkura veida modeļiem.
Augstas izšķirtspējas ķēdes diagnostika
Uzlabojiet diagnostiku ar> 1,5x uzlabotiem procesa mezgliem (5 nm un zemāk). Nodrošina precīzu tranzistora līmeņa izolāciju skenēšanas ķēdes defektiem. Nodrošina, ka dziļo punktu defektus var precīzi izolēt.
Korelē ar DFM analīzi
Diagnozes rezultātus var saistīt ar DFM analīzes rezultātiem, lai identificētu kritiskās dizaina iezīmes. Tessent Diagnosis var nolasīt rezultātu datu bāzes (RDB) no Calibre.
Uzticama tehnoloģija
Tessent Diagnosis ir tirgus līderis skenēšanas diagnostikas tehnoloģijā ar visaugstāko precizitātes līmeni. Vairāk nekā 80% ziņojumu, kas ģenerēti, izmantojot Tessent Diagnosis, ir apstiprināti, izmantojot kļūmju analīzes procesu.
Ķēdes diagnostikas uzlabojumi ar Tessent tehnoloģijām
Džajants D'Souza, Tessent vecākais produktu vadītājs, stāsta par Tessent augstas izšķirtspējas ķēdes diagnostikas tehnoloģijas izmantošanu, lai uzlabotu ienesīgumu, lai sasniegtu laiku tirgū, atrodot sistemātiskākus defektus un uzlabojot izšķirtspēju līdz pat 80%.
