Tessent AnalogTest
Tessent AnalogTest samazina analogā testa modeļa izstrādi un pārbaudi no inženiertehniskajiem mēnešiem līdz inženiertehniskajām stundām. Kā vienīgais pašlaik pieejamais komerciālais risinājums ir visefektīvākais veids, kā maksimāli palielināt defektu pārklājumu, vienlaikus samazinot testa izmaksas.
Kāpēc Tessent AnalogTest?
Analogo shēmu testēšana tradicionāli ir bijis garlaicīgs, manuāls process. Tessent AnalogTest ļauj 10x-100x samazināt silīcija analogā testa laiku salīdzinājumā ar tradicionālajiem specifikācijas testiem.
Samaziniet testa izmaksas
Analogajai testēšanai ir nepieciešams ilgs testa laiks dārgiem jauktu signālu testētājiem. Tessent AnalogTest ģenerē minimālas ietekmes DFT shēmas un digitālos testa modeļus, lai pārbaudītu analogās ķēdes bloku <1 ms tikai digitālos testētājos.
Palielināt inženiertehnisko
Tessent AnalogTest pārveido analogo DFT un testu izstrādi ātrā, automatizētā procesā. Strukturālie un specifikāciju testi tiek pārbaudīti simulācijā pirms palaišanas ar ATE vai sistēmā, samazinot atkļūdošanas laiku.
Maksimāli palieliniet analogā testa pārklājumu
Analogo ķēžu specifikāciju testēšanai var būt mazāks testa pārklājums, lai samazinātu ražas zudumus. Uz digitālo skenēšanu balstīti DFT un ATPG var nodrošināt simulētus testa modeļus, kas nodrošina lielāku defektu pārklājumu, nepalielinot ienesīguma zudumus.
Samaziniet laiku nonākšanai tirgū, izmantojot Tessent AnalogTest pārklājumu
Uzziniet, kā samazināt analogo un jauktu signālu shēmu ražošanas testu izplūdi un uzlabot produkta nonākšanas laiku tirgū, izmantojot Tessent AnalogTest.