Questa One Sim FX ir augstas veiktspējas simulators, ko izmanto Design-For-Test (DFT) funkcionālu bojājumu novērtēšanai, lai uzlabotu sarežģītu IC defektu pārklājumu. Integrācija ar tirgū vadošo Tessent TestKompress piedāvā jaudīgu risinājumu, lai tuvotos nulles defektu detaļām uz miljonu (DPPM).
Automatizētā Tessent formāta plūsma un atbalsts uzlabotiem bojājumu modeļiem nodrošina unikālu risinājumu augstas veiktspējas un sarežģītu IC uzticamības uzlabošanai.
Novērsiet kļūdas, kuras var aktivizēt tikai ar funkcionāliem modeļiem, lai uzlabotu vispārējo defektu pārklājumu.
Palieliniet bojājumu pārklājumu ārpus strukturālo bojājumu modeļu darbības jomas.
Funkcionālā kļūdu klasifikācija palīdz pārbaudīt jauktu signālu ķēžu, piemēram, drošības shēmu un analogo bloku, pareizu darbību un izturību.
Lai gan uz ATPG skenēšanu balstīta testēšana ir kritiska, lai atklātu zema līmeņa strukturālus defektus, funkcionālo kļūdu klasifikācija palīdz nodrošināt ierīces vispārējās funkcionālās integritātes saglabāšanu un ka testa modeļi atspoguļo apstākļus, kādus mikroshēma piedzīvos reālajā lietošanā. Šī strukturālo un funkcionālo kļūdu analīzes kombinācija palīdz nodrošināt visaptverošāku un stabilāku testēšanas stratēģiju.
Siemens EDA piedāvā pasaules klases klientu atbalstu Questa One Sim FX un visiem mūsu produktiem.
Verifikācijas akadēmija nodrošina prasmes, kas nepieciešamas, lai nobriestu organizācijas funkcionālās verifikācijas procesa iespējas, nodrošinot metodisku tiltu starp augsta līmeņa vērtību piedāvājumiem un zema līmeņa detaļām.
Lai palīdzētu izprast uzlabotas funkcionālās verifikācijas tehnoloģijas un to visefektīvāko piemērošanu, apmeklējiet mūsu emuāru, lai iegūtu ieskatu un atjauninājumus par jēdzieniem, vērtībām, standartiem, metodoloģijām un piemēriem.
