“Tessent MemoryBist” suteikia pilną sprendimą įterptųjų atminčių testavimui, diagnostikai, taisymui, derinimui ir apibūdinimui. Pasinaudojant lanksčia hierarchine architektūra, įmontuotas savęs testavimas ir savaiminis remontas gali būti integruoti atskiruose branduoliuose, taip pat aukščiausiame lygyje.
“Tessent MemoryBist”, pramonėje pirmaujanti atminties įmontuota savikontrolė, apima unikaliai išsamų automatizavimo srautą, kuris suteikia projektavimo taisyklių tikrinimą, bandymų planavimą, integraciją ir patikrinimą visi RTL arba vartų lygiu.
“Tessent MemoryBist ECC” padidina patikimumą, pagerina testų kokybę ir apsaugo nuo senėjimo defektų. Jo pritaikomi perdavimo/nesėkmės kriterijai leidžia optimaliai derinti atminties atleidimą ir klaidas ištaisantį kodą.
“Tessent MemoryBist NVM” užtikrina lankstų bandymą ir remontą, sumažina gamybos bandymų išlaidas ir padidina patikimumą. Automatizuoti NVM specifiniai algoritmai įgalina specializuotus prieigos režimus ir dirba su ECC parinktimi. Prieinama. pradžioje 26
Pažangus BAP suteikia konfigūruojamą sąsają, kad optimizuotų testavimą sistemoje. Jis taip pat palaiko mažo delsos protokolą, skirtą konfigūruoti atminties BIST valdiklį, vykdyti Go/NoGo testus ir stebėti praėjimo/nesėkmės būseną.
Atminties testavimo algoritmai gali būti kietai koduoti į “Tessent MemoryBist” valdiklį, tada pritaikyti kiekvienai atminčiai per vykdymo kontrolės laiką. Tai leidžia jums pasirinkti trumpesnius bandymo algoritmus, kai gamybos procesas bręsta.
“Tessent MemoryBist” remonto parinktis pašalina sudėtingumą ir išlaidas, susijusias su išoriniais remonto srautais. Jis išbando ir visam laikui taiso visas sugedusias atmintines luste, naudodamas beveik jokių išorinių išteklių.
Žiūrėti Etienne Racine, Tessent produktų vadybininkas, kalbėti apie tai, kaip “Tessent MemoryBist” gali padėti maksimaliai padidinti bandymo kokybę, sumažinti bandymo laiką, pagerinti derlių ir remonto prisiminimus su savo lanksčia architektūra.
Sužinokite, kaip naudojant “Tessent” programinę įrangą galite suderinti su kylančiais standartais ir taisyklėmis, tuo pačiu siūlant išsamų sprendimų rinkinį, kad atitiktų šiandieninių automobilių IC pokyčių reikalavimus.
Šiame darbe aprašomi bendros magistralės architektūros naudojimo privalumai tiriant ir taisant atmintis iPS branduoliuose ir pristatoma “Tessent MemoryBist” esanti automatizacija.
Šiame atvejo tyrime aprašoma, kaip ON Semiconductor panaudojo hierarchinį Tessent MemoryBist srautą, kad sumažintų atminties BIST įterpimo laiką 6X.
