Tessent LogicBIST
“Tessent LogicBist” yra pirmaujantis pramonėje įmontuotas savikontrolės sprendimas, skirtas integruotų grandynų skaitmeninių loginių komponentų testavimui. Tai idealus bandymo sprendimas saugai svarbiems prietaisams, tokiems kaip IC, naudojami automobilių ir medicinos reikmėms.
Kodėl “Tessent LogicBist”?
“Tessent LogicBist” efektyviai integruojasi su “Tessent MissionMode” ir “Tessent TestKompress”, kad sukurtų pilną sistemos ir gamybos bandymų sprendimą saugai svarbiems įrenginiams.
Pagerina bandymo aprėptį
Sukurta hibridinėms TK/LBIST programoms, “Tessent VersaPoint” bandymo taškų technologija tuo pačiu metu pagerina ATPG modelių skaičių ir loginį BIST testavimą, pagerindama LBIST aprėptį 2% -4%.
Atitinka sistemos bandymo laiką
Stebėdama grandinės duomenis kiekviename pamainos cikle, ne tik fiksuojant, stebėjimo nuskaitymo technologija (OST) žymiai sumažina modelių skaičių, reikalingą tikslinei logikai BIST bandymo aprėpčiai pasiekti.
Padidina bandymų efektyvumą
“Tessent Hybrid TK/LBIST” efektyviai sujungia “Tessent TestKompress” ir “LogicBist” loginę architektūrą, kad pagerintų bandymų kokybę, tuo pačiu išvengiant bet kokios baudos už plotą, išnaudodamas tiek ATPG suspaudimo, tiek logikos BIST pranašumus.
“Infineon” sumažina LBIST bandymo laiką iki funkcinės saugos
Šiame pristatyme Danielis Tille iš “Infineon” parodo “LogicBist” naudojimą su “Observation Scan Technology”, kuri, kaip įrodyta, drastiškai sumažina “Infineon Automotive” mikrovaldiklių (MCU) logikos įmontuoto savikontrolės (LBIST) bandymo laiką.
