Norint garantuoti optimalų našumą, patikimumą ir saugumą viso jų veikimo metu, reikalingas nuolatinis prietaisų testavimas ir stebėjimas. “Tessent In-System Test” leidžia taikyti aukštos kokybės deterministinius bandymų modelius sistemos/lauko bandymams jūsų lusto gyvavimo ciklo metu.
“Tessent In-System Test” suteikia įterptąją aparatinę įrangą ir reikalingą programinę įrangą, leidžiančią taikyti aukštos kokybės deterministinius bandymų modelius, tuo pačiu sumažinant bandymo laiką, palyginti su tradicine logika BIST.
Sistemos deterministinis testas leidžia keisti bandymo modelius, kai atsiranda naujų defektų ir gedimų modelių arba keičiasi bandymo turinio poreikiai.
Sistemos bandymo valdiklis perima duomenis iš magistralės sąsajų, vairuodamas “Streaming Scan Network” magistralės tinklą viduje, kad būtų galima taikyti nuskaitymo duomenų paketus branduoliams bandymams, sumažinti bandymo laiką ir pagerinti galios profilį bandymo metu.
Pakartotinai naudoja esamą mikroschemoje esančią bandymų infrastruktūrą, kad būtų galima nustatyti latentinius, pertraukiamus, atsitiktinius ar su amžiumi susijusius defektus gaminio gyvavimo laikotarpiu, leidžiant pakartotinai naudoti IJTAG ir SSN pagrįstus modelius sistemoje.
Pateikia visiškai automatizuotas aparatinės ir programinės įrangos galimybes, reikalingas reaguoti į senėjimo ir aplinkos veiksnius, kurie pasireiškia kaip tyliosios duomenų klaidos/korupcija. Test turinys gali būti keičiamas tobulėjant bandymo reikalavimams.
“Tessent In-System Test” (IST), pristatytas ITC 2024, papildo “Tessent Streaming Scan Network (SSN) ir padidina jo galimybę naudoti sistemoje, lauke esančioje aplinkoje, taip išplečiant pažangią technologiją, kurią teikia “Tessent SSN”. Dizaineriai gali taikyti įterptųjų deterministinių testų (EDT) modelius, sugeneruotus naudojant Tessent SSN programinę įrangą per SSN magistralę tiesiogiai naudojant in-system test valdiklį.
“Tessent In-System Test” integruoja sistemos deterministinį testą (IS-EDT) su “Tessent Streaming Scan Network”, kad vartotojai galėtų paleisti deterministinius modelius sistemoje. Nors IS-EDT modelių paklausa yra labai svarbi automobilių pramonėje, ši technologija taip pat naudinga duomenų centrų ir tinklų dizainui. Šiame darbe aprašoma, kaip “Tessent In-System Test” atitinka sistemos ir lauko bandymų poreikius.
Sužinokite, kaip naudojant “Tessent” programinę įrangą galite suderinti su kylančiais standartais ir taisyklėmis, tuo pačiu siūlant išsamų sprendimų rinkinį, kad atitiktų šiandieninių automobilių IC pokyčių reikalavimus.
Sužinokite daugiau apie didėjantį integrinių grandynų (IC) dizaino inovacijų vaidmenį skaitmeninėje transformacijoje šioje baltojoje knygoje.
