Žmogus stovi priešais didelį ekraną, rodantį spalvingą abstraktų dizainą.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan” yra pilnas sprendimas automatizuotai generuoti ir integruoti lusto bandymo infrastruktūrą, ribų nuskaitymą ir bandomąją prieigos prievadą.

Kodėl Tessent BoundaryScan?

“Tessent BoundaryScan” logika gali būti prieinama visą IC gyvavimo laiką, įskaitant gamybos testą visuose pakuotės lygiuose, silicio derinimą ir sistemos patikrinimą, siekiant aptikti defektus prieš išsiunčiant, sumažinant lauko palaikymo išlaidas ir didinant klientų pasitenkinimą.

Visiškas ribų nuskaitymas ir TAP valdiklio integravimas

Automatiškai generuoja ir integruoja RTL kodą TAP valdikliui ir ribų nuskaitymo langelius į dizaino RTL. Generuoja scenarijus logikos sintezės, modeliavimo testbench ir bandymo modelius gamybos bandymo.

Palaiko kelis formatus

“Tessent Boundary scan” palaiko IEEE 1149.1 pasirinktines ribų nuskaitymo ląsteles ir bekontaktį I/O testą ir turi 1149.6 ribų nuskaitymo palaikymo parinktį.

IEEE 1687 IJTAG sąveika

Automatiškai sujungia IJTAG tinklus ir instrumentus prie naujai įdėto TAP valdiklio ir generuoja gautus Instrument Connectivity Language failus. I/O testai generuojami procedūrinio aprašymo kalba (PDL) formatu.

Sužinokite daugiau

Pristatymas

“Tessent” įterptųjų ribų nuskaitymas

Šiame vaizdo įraše parodytas “Tessent Boundary Scan” (1149.1) įgyvendinimo srautas aukščiausiame lygyje ir “Tessent Embedded Boundary Scan” fizinio bloko lygyje “Tessent Shell”.

Grandinės plokštės schema su spalvotais blokais ir jungiamosiomis linijomis, atstovaujančiomis elektroninius komponentus ir kelius.

Boundary Scan kalbos aprašo konvertavimas

Mažiau nei penkias minutes vaizdo įraše parodyta, kaip galima naudoti Tessent IJTAG lengvai konvertuoti BSDL (Boundary Scan Description Language) failą į jo ICL (Instrument Connectivity Language) failo ekvivalentą.

Diagrama, parodanti ribų nuskaitymo naudojimą automatiniam bandymo modelio generavimui.

Technologijų apžvalga

Ribų nuskaitymo grandinės naudojimas ATPG metu

Šiame vaizdo įraše demonstruojamas ribų nuskaitymo naudojimas kaip suspaustos arba nesuspaustos grandinės ATPG metu todėl su visais bandomo prietaiso (DUT) kaiščiais susisiekti nereikia.

Žmonės, žiūrintys mašininį mokymąsi ar giluminio mokymosi diagramą

Mokymosi kelias

“Tessent Training” > “Tessent Integrated Flow”

Sužinokite, kaip įdiegti MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion ir TestKompress į savo dizainą, kad gautumėte aukštą bandymo kokybę naudojant kelis Tessent įrankius.