
Calibre EUV
Išsami parama sprendžiant unikalius aukštos NNR EUV iššūkius, tokius kaip anamorfinė optika ir kaukių 3D modeliavimas, siekiant atsižvelgti į šešėliavimo efektus.
Nepasotinamas integrinių grandynų (IC) poreikis ir toliau skatina mažesnius kritinius matmenis. Fotolitografijos procesai, įskaitant ekstremalius ultravioletinius spindulius (EUV), kelia vis daugiau sudėtingumo ir duomenų apimties. Mūsų skaičiuojamosios litografijos sprendimai leidžia ekonomiškai efektyvią technologiją.
Tiek litografiniai iššūkiai, tiek skaičiavimo sudėtingumas, susijęs su pažangiais proceso mazgais, sukuria pažangių skaičiavimo litografijos programinės ir techninės įrangos galimybių poreikį. “Calibre” sprendimas siūlo geriausią savo klasėje tikslumą, greitį ir nuosavybės kainą.

Tankus optinis artumas ir proceso korekcija, kad būtų galima gaminti gilius submikronus.
Į dizainą įterpiamos papildomos skiriamosios gebos pagalbinės funkcijos (SRAF).
Galingas viso lusto modeliavimas ir litografinė analizė.

GUI naudojamas įvairiausioms programoms paleisti ir rezultatams peržiūrėti.

Labai keičiamas kalibravimo variklis optiniams, resistiniams ir etch modeliams.
Greita, atvirkštinė pikselių optinė artumo korekcija.
Lengva naudoti GUI apšvietimo šaltinio optimizavimui.