비파괴적이고 반복 가능하며 표준화된 테스트 방법이에요.
Simcenter Micred 하드웨어 및 소프트웨어 제품군은 정적 및 동적 조건에서 전자 부품의 열 성능을 평가하도록 설계됐어요.열 과도 테스트 시스템은 테스트 대상 장치 (DUT) 의 적용 가열 전력을 빠르게 변경하고 온도 응답을 측정해서 작동해요.접합 온도는 교정 단계에서 사용자가 선택한 온도에 민감한 파라미터를 기반으로 기록돼요.방법은 JEDEC 표준하고 ECPE 자동차 인증 지침 (AQG) 같이 널리 채택된 산업 지침을 준수해요.결과 데이터는 부품의 열 거동에 대한 통찰력을 제공하는 열 임피던스 프로파일을 생성하는 데 사용돼요.
열 메트릭, 열 신뢰성, 품질 평가 결정
그런 다음 임피던스 프로파일을 사용하여 열 경로 저하와 같은 잠재적인 열 문제를 식별하고 특정 위치의 열 저항 변화를 추적할 수 있어요.와이어 본드 끊김, 솔더 피로, 다이, 기판 균열을 실시간으로 감지해서 노화, 손상, 고장 등으로 인한 열 영향을 진단하는 데 훌륭한 도구예요.
광범위한 응용 분야에 걸친 높은 충실도
Simcenter Micred 테스트 도구는 다양한 애플리케이션과 산업의 요구를 충족하도록 설계된 다양한 시스템을 제공합니다.이 시스템들은 높은 정확도, 속도, 정밀도를 갖춘 첨단 측정 및 제어 기술을 갖추고 있어요.반도체, 가전, 자동차, LED 산업뿐만 아니라 연구 센터에서도 부품 엔지니어링, 프로토타이핑, 테스트 중에 사용해요.
혁신의 유산
Simcenter Micred 제품군은 부다페스트 기술경제대학교 (BME) 전자소자학과 연구원들이 처음 개발했어요.Siemens는 이 혁신의 유산을 계속 이어가고 있어요.








