Tescent LogicBist를 왜 테센트해요?
Tessent LogicBist는 테센트 미션모드 및 테센트 TestKompress와 효율적으로 통합되어 안전이 중요한 장치에 대한 완전한 시스템 내 및 제조 테스트 솔루션을 만들어요.
테스트 커버리지 개선해요
하이브리드 TK/LBIST 애플리케이션용으로 설계된 테센트 버사포인트 테스트 포인트 기술은 ATPG 패턴 수와 로직 BIST 테스트 가능성을 동시에 개선하여 LBIST 적용 범위를 2%-4% 개선해요.
시스템 내 테스트 시간 충족
옵저베이션 스캔 기술 (OST) 은 캡처뿐만 아니라 시프트 사이클마다 회로 데이터를 관찰함으로써 대상 로직 BIST 테스트 커버리지에 도달하는 데 필요한 패턴 수를 크게 줄여요.
테스트 효율성을 높여줍니다.
테센트 하이브리드 TK/LBIST는 Tessent TestKompress와 LogicBIST의 로직 아키텍처를 효율적으로 결합하여 영역 페널티를 피하면서 테스트 품질을 향상시켜 ATPG 압축과 로직 BIST의 이점을 모두 누려요.
고객 성공사례
인피니언은 LBIST 테스트 시간을 기능 안전으로 단축해요
이 프레젠테이션에서 인피니언의 다니엘 틸은 인피니언 오토모티브 마이크로컨트롤러 (MCU) 의 로직 내장 셀프 테스트 (LBIST) 테스트 시간을 크게 줄여주는 것으로 입증된 관찰 스캔 기술과 LogicBist를 사용하는 방법을 보여줘요.
