테센트 어드밴스드 DFT
테센트 로직비스트
Tessent LogicBist는 집적 회로의 디지털 로직 컴포넌트 테스트를 위한 업계 최고의 내장형 셀프 테스트 솔루션이에요.자동차와 의료 애플리케이션에 사용되는 IC 같은 안전이 중요한 장치에 적합한 테스트 솔루션이에요.
Tescent LogicBist를 왜 테센트해요?
Tessent LogicBist는 테센트 미션모드 및 테센트 TestKompress와 효율적으로 통합되어 안전이 중요한 장치에 대한 완전한 시스템 내 및 제조 테스트 솔루션을 만들어요.
테스트 커버리지 개선해요
하이브리드 TK/LBIST 애플리케이션용으로 설계된 테센트 버사포인트 테스트 포인트 기술은 ATPG 패턴 수와 로직 BIST 테스트 가능성을 동시에 개선하여 LBIST 적용 범위를 2%-4% 개선해요.
시스템 내 테스트 시간 충족
옵저베이션 스캔 기술 (OST) 은 캡처뿐만 아니라 시프트 사이클마다 회로 데이터를 관찰함으로써 대상 로직 BIST 테스트 커버리지에 도달하는 데 필요한 패턴 수를 크게 줄여요.
테스트 효율성을 높여줍니다.
테센트 하이브리드 TK/LBIST는 Tessent TestKompress와 LogicBIST의 로직 아키텍처를 효율적으로 결합하여 영역 페널티를 피하면서 테스트 품질을 향상시켜 ATPG 압축과 로직 BIST의 이점을 모두 누려요.
케이스 스터디
인피니언은 LBIST 테스트 시간을 기능 안전으로 단축해요
이 프레젠테이션에서 인피니언의 다니엘 틸은 인피니언 오토모티브 마이크로컨트롤러 (MCU) 의 로직 내장 셀프 테스트 (LBIST) 테스트 시간을 크게 줄여주는 것으로 입증된 관찰 스캔 기술과 LogicBist를 사용하는 방법을 보여줘요.
