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왜 Tessent In-System 테스트를 사용해요?

Tessent In-System Test는 기존 로직 BIST에 비해 테스트 시간을 줄이면서 고품질 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있도록 내장 하드웨어와 필요한 소프트웨어를 제공해요.

적응형 테스트 가능

시스템 내 결정성 테스트를 사용하면 새로운 결함이나 결함 모델이 나타나거나 테스트 내용이 변경되면 테스트 패턴을 변경할 수 있어요.

테센트 SSN에서 작동해요

시스템 내 테스트 컨트롤러는 버스 인터페이스에서 데이터를 가져와서 스트리밍 스캔 네트워크 버스 네트워크를 내부적으로 구동하여 테스트, 테스트 시간 단축, 테스트 중 전력 프로파일 개선을 위해 스캔 데이터 패킷을 코어에 적용해요.

테스트 패턴 재사용하세요

시스템 내 애플리케이션에 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 재사용할 수 있게 함으로써 제품 수명 기간 동안 잠재된 결함, 간헐적 결함, 무작위 결함 또는 노화 관련 결함을 대상으로 기존 온칩 테스트 인프라를 재사용해요.

무음 데이터 오류에 반응하죠.

조용한 데이터 오류/손상으로 나타나는 노후화 및 환경 요인에 대응하는 데 필요한 완전 자동화된 하드웨어 및 소프트웨어 기능을 제공해요.테스트 요건이 바뀌면 테스트 내용을 변경할 수 있어요.

언제 어디서나 무엇이든 테스트해 보세요

기기 작동 수명 전반에 걸쳐 결함을 식별해요.웨이퍼부터 현장까지 무결점 품질과 지속적인 신뢰성을 보장하세요.Tessent In-System Test는 HSIO 기반 테스트 제공과 고급 결함 모델을 통해 전체 라이프사이클 품질을 위한 포괄적이고 확장 가능하며 유연한 솔루션을 제공해요.

여러 가지 파란색 음영이 반사되는 실리콘 웨이퍼의 이미지예요.

고품질 결정론적 테스트 패턴 활성화

ITC 2024에서 출시된 테센트 인-시스템 테스트 (IST) 는 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 (SSN) 를 보완하고 시스템 내, 현장 환경에서 사용할 수 있는 능력을 향상시켜 테센트 SSN이 제공하는 첨단 기술을 확장해요.디자이너들은 테센트 SSN 소프트웨어로 생성한 임베디드 결정론적 테스트 (EDT) 패턴을 시스템 내 테스트 컨트롤러를 사용하여 SSN 버스에 직접 적용할 수 있어요.

고품질 결정론적 테스트 패턴 사용이에요

Tessent In-System Test는 시스템 내 결정론적 테스트 (IS-EDT) 를 테센트 스트리밍 스캔 네트워크와 통합해서 사용자들이 결정론적 패턴을 시스템 내에서 실행할 수 있게 해줘.IS-EDT 패턴에 대한 수요가 자동차 산업에서 매우 중요한데, 이 기술은 데이터 센터하고 네트워킹 설계에도 도움이 돼요.이 백서는 Tessent In-System Test가 시스템 내 및 현장 테스트의 요구를 어떻게 충족하는지 간략하게 설명해요.

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