Tescent In-System 테스트

시스템 내 결정성 테스트를 사용하면 새로운 결함이나 결함 모델이 나타나거나 테스트 내용이 변경되면 테스트 패턴을 변경할 수 있어요.

시스템 내 테스트 컨트롤러는 버스 인터페이스에서 데이터를 가져와서 스트리밍 스캔 네트워크 버스 네트워크를 내부적으로 구동하여 테스트, 테스트 시간 단축, 테스트 중 전력 프로파일 개선을 위해 스캔 데이터 패킷을 코어에 적용해요.

시스템 내 애플리케이션에 IJTAG 및 SSN 기반 패턴을 재사용할 수 있게 함으로써 제품 수명 기간 동안 잠재된 결함, 간헐적 결함, 무작위 결함 또는 노화 관련 결함을 대상으로 기존 온칩 테스트 인프라를 재사용해요.

조용한 데이터 오류/손상으로 나타나는 노후화 및 환경 요인에 대응하는 데 필요한 완전 자동화된 하드웨어 및 소프트웨어 기능을 제공해요.테스트 요구 사항이 변화함에 따라 테스트 내용을 변경할 수 있어요.