非破壊的で再現可能な、標準化された試験方法
Simcenter Micredファミリーのハードウェアおよびソフトウェア製品は、静的および動的条件下での電子部品の熱性能を評価するように設計されています。熱過渡試験システムは、被試験デバイス(DUT)の印加熱電力をすばやく変化させ、その温度応答を測定することで機能します。接合部温度は、キャリブレーション段階でユーザーが選択した温度感受性パラメータに基づいて記録されます。この方法は、JEDEC規格やECPE自動車認定ガイドライン(AQG)など、広く採用されている業界ガイドラインに準拠しています。得られたデータは、部品の熱挙動に関する洞察を提供する熱インピーダンスプロファイルを生成するために使用されます。
熱指標、熱信頼性、品質評価の決定
次に、インピーダンスプロファイルを使用して、熱経路の劣化などの潜在的な熱問題を特定し、熱抵抗の変化をある場所まで追跡できます。ワイヤーボンド断線、はんだ疲労、ダイ、基板の亀裂をリアルタイムで検出し、経年劣化、損傷、故障などの熱的影響を診断するための優れたツールです。
幅広い用途で高い忠実度を実現
Simcenter Micredテストツールは、さまざまなアプリケーションや業界のニーズを満たすように設計されたさまざまなシステムを提供します。これらのシステムは、高精度、速度、高精度の高度な測定および制御技術を備えています。研究センターだけでなく、半導体、家庭用電化製品、自動車、LED業界でも、コンポーネントのエンジニアリング、プロトタイピング、テストに使用されています。
イノベーションの遺産
Simcenter Micredファミリーは当初、ブダペスト工科経済大学(BME)の電子デバイス学部の研究者によって開発されました。Siemens この革新の遺産を引き続き引き継いでいます。








