Tessent Yield Learning

Tessent SiliconInsight

Tessent SiliconInsightは、テッセントのATPG、EDT、BIST、および/またはIJTAGテスト構造を含むデバイスのテスト起動、デバッグ、およびシリコン特性評価のための自動化されたインタラクティブ環境を提供します。

なぜTessent SiliconInsight なの？

シリコンの検証とデバッグ中の生産性を大幅に向上させ、市場投入までの時間を短縮します。Tessent SiliconInsightソリューションはベンチトップ環境で動作し、あらゆるデバッグボード、パフォーマンスボード、または起動ボードに接続して、最大120個のデバイスピンにアクセスできます。

シリコンを初めて作る前に、標準シミュレータの設計を使用してテストパターンを検証し、欠陥を注入し、シリコンを使わない潜在的な故障シナリオの特性評価を行います。

ATPG、MBIST、LBIST、IJTAGのデスクトップデバッグ環境で、サードパーティのUSBアダプタを使用して最大120個のデバイスピンにアクセスできます。GPIBを介した電源とクロックのShmoo機能。

ATE-Connectテクノロジーは、業界標準のインターフェースを構築し、独自のテスター専用ソフトウェアとテスト設計（DFT）プラットフォーム間の通信障壁を排除します。