Tessent Yield Learning
Tessent Diagnosis
Tessent Diagnosis ingは、製造テストからの故障データ、スキャンテストパターン、および設計情報を使用して、故障の原因となっている欠陥の場所と分類を特定します。
なぜTessent Diagnosis？
Tessent Diagnosis Diagnosticsソリューションは、欠陥の種類と場所を特定し、診断主導型の利回りと故障分析の基礎を確立します。
欠陥とタイミングエラーを正確に特定します
レイアウトとセルを意識した技術を使って、欠陥の最も可能性の高い故障メカニズム、論理的な位置、物理的な位置を特定します。
細胞認識診断
トランジスタレベルの診断を行って、標準セル内の欠陥を特定します。この機能は、セル対応ATPGに使用されているのと同じセル対応障害モデルを活用し、どのパターンタイプでも機能します。
高解像度のチェーン診断
高度なプロセスノード（5nm以下）では、診断が1.5倍以上向上します。スキャンチェーンの欠陥をトランジスタレベルで正確に分離します。深い点欠陥を正確に分離できることを保証します。
DFM分析と相関させてください
診断結果をDFM分析結果と相関させて、重要な設計上の特徴を特定できます。Tessent Diagnosis シスでは、Calibreから結果データベース（RDB）を読み取ることができます。
信頼できるテクノロジー
Tessent Angnossonisは、最も精度の高いスキャン診断技術のマーケットリーダーです。Tessent Diagnosis を使用して生成されたレポートの 80% 以上は、障害分析プロセスを使用して確認されています。
Tessentテクノロジーによるチェーン診断の改善
TessentのシニアプロダクトマネージャーであるJayant D'Souzaは、Tessentの高分解能チェーン診断技術を活用して、より多くの系統的な欠陥を発見し、解決率を最大80％向上させることで、市場投入までの時間枠に合わせて利回りを向上させることについて話しています。
