Tessent LogicBIST
Tessent LogicBIST は、集積回路のデジタルロジックコンポーネントをテストするための業界をリードする組み込みセルフテストソリューションです。自動車や医療用途で使用されるICなどのセーフティクリティカルなデバイスに最適なテストソリューションです。
なぜTessent LogicBIST なの？
Tessent LogicBIST は、Tessent MissionModeおよびTessent TestKompressと効率的に統合して、セーフティクリティカルなデバイス向けの完全なシステム内および製造テストソリューションを構築します。
テストカバレッジを向上させます
TK/LBISTのハイブリッドアプリケーション向けに設計されたTessent VersaPointテストポイントテクノロジーは、ATPGのパターン数とロジックBISTのテスト性を同時に向上させ、LBISTのカバレッジを2％〜4％向上させます。
システム内テスト時間を満たしています
Observage Scan Technology（OST）は、キャプチャ時だけでなく、シフトサイクルごとに回路データを観察することで、ターゲットロジックのBISTテストカバレッジに到達するために必要なパターン数を大幅に削減します。
テスト効率を高めます
テッセントハイブリッドTK/LBISTは、Tessent TestKompressとLogicBistのロジックアーキテクチャを効率的に組み合わせて、エリアペナルティを回避しながらテスト品質を向上させ、ATPG圧縮とロジックBISTの両方のメリットを享受します。
インフィニオンはLBISTテスト時間を機能安全のために短縮します
このプレゼンテーションでは、インフィニオンのDaniel Tilleが、LogicBistとオブザベーションスキャン技術の使用方法を紹介します。これにより、インフィニオンの車載マイクロコントローラ（MCU）のロジックビルトインセルフテスト（LBIST）テスト時間を大幅に短縮することが証明されています。
