Tessent Advanced DFT
Tessent AnalogTest
Tessent AnalogTestは、アナログテストパターンの開発と検証をエンジニアリングの数か月からエンジニアリング時間に短縮します。現在入手可能な唯一の商用ソリューションなので、テストコストを削減しながら欠陥カバレッジを最大化する最も効果的な方法です。
なぜTessent AnalogTest なの？
アナログ回路のテストは、従来、面倒な手作業でした。Tessent AnalogTestを使用すると、従来の仕様テストと比較して、シリコンアナログのテスト時間を10分の1から100倍短縮できます。
テスト費用を削減します
アナログテストには、高価なミックスドシグナルテスターでの長いテスト時間が必要です。Tessent AnalogTestは、影響を最小限に抑えたDFT回路とデジタルテストパターンを生成して、デジタルのみのテスターでアナログ回路ブロックを1ミリ秒未満でテストします。
エンジニアリングの効率を高めてください
Tessent AnalogTestは、アナログDFTとテスト開発を迅速で自動化されたプロセスに変換します。構造テストと仕様テストは、ATEまたはインシステムで実行される前にシミュレーションで検証されるため、デバッグ時間が短縮されます。
アナログテストのカバレッジを最大化してください
アナログ回路の仕様テストでは、歩留まりの損失を最小限に抑えるためにテスト範囲を狭めることができます。デジタルスキャンベースのDFTとATPGは、歩留まり損失を増やすことなく、より高い欠陥カバレッジを実現するシミュレートされたテストパターンを提供できます。
Tessent AnalogTest カバレッジで市場投入までの時間を短縮します
Tessent AnalogTestで、アナログ回路やミックスドシグナル回路の製造テストエスケープを最小限に抑え、製品の市場投入までの時間を短縮する方法を見つけてください。