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継続的な監視と最適化を実現してください

Tessent Embedded Analytics ソリューションは、SoCのライフサイクル全体を通して健全性と運用の指標を生成するために使用できます。Tessent Embedded SDKをベースにした組み込みソフトウェアは、Tessent Embedded Analytics スマートモニターを駆動して、自己完結型のオンチップ監視システムを構築することができます。

電子チップ

組み込みソフトウェアを使用したBoost SoCのデバッグ/最適化

組み込みソフトウェアが、オンチップモニターから洞察を引き出すのに代わる優れた代替手段としてどのように役立つかをご覧ください

ビデオ

DFTから電子システムのインライフモニタリングへ

ITCのAnkur GuptaによるこのDiamondのプレゼンテーションで、テスト容易性設計(DFT)から信頼性の高い電子システムの耐用年数モニタリングまで、Tessent Silicon Lifecycle Solutions をご覧ください。

ビデオ

稼働中のシステムを検出、診断、デバッグします

リアルタイムの電圧テレメトリと機能モニタリングを使用して、システムの運用中のオブザーバビリティを高める方法をご覧ください。

ホワイトペーパー

システムオブザーバビリティの強化

Movellus Aeonic Insight™ ドループ検出器の物理的なオンダイテレメトリーと、Tessent Embedded Analytics 機能監視ソリューションを組み合わせた共同ソリューションです。ハードウェアクロストリガーを介してこれらの機器をリンクすることで、システムは何が起こったのか、なぜ起こったのかを時系列で一元的に把握し、特定の命令シーケンスやバスアクティビティを、それらを引き起こした物理的なPDNイベントと直接相関させることができます。

3D IC ブルー
ホワイトペーパー

ロングテール・レイテンシーとサーバー・デバッグ

ロングテール・レイテンシーとサーバー・デバッグの影響についてもっと読んでください。レイテンシー回避とパフォーマンスデバッグのための詳細なソフトウェア戦略を理解してください。

大画面の前に大勢の人が立って、トレンドテクノロジーに関するグラフやテキストを表示しています。