Metodi di test non distruttivi, ripetibili e standardizzati
La famiglia di prodotti hardware e software Simcenter Micred è progettata per valutare le prestazioni termiche dei componenti elettronici in condizioni statiche e dinamiche. Il sistema di test dei transitori termici funziona modificando rapidamente la potenza di riscaldamento applicata di un dispositivo in prova (DUT) e misurandone la risposta alla temperatura. La temperatura di giunzione viene registrata in base a un parametro sensibile alla temperatura a scelta dell'utente durante la fase di calibrazione. I metodi sono conformi alle linee guida del settore ampiamente adottate, come gli standard JEDEC e le linee guida ECPE per la qualificazione automobilistica (AQG). I dati risultanti vengono utilizzati per generare profili di impedenza termica, che forniscono informazioni sul comportamento termico del componente.
Determinazione delle metriche termiche, affidabilità termica e valutazione della qualità
I profili di impedenza vengono quindi utilizzati per identificare potenziali problemi termici, come la degradazione del percorso termico e qualsiasi variazione della resistenza termica può essere rintracciata in una posizione. È uno strumento eccellente per diagnosticare gli effetti termici dell'invecchiamento, dei danni, dei guasti, ecc., con rilevamento in tempo reale delle rotture dei fili, dell'affaticamento della saldatura, dello stampo e delle crepe del substrato.
Alta fedeltà in un ampio spettro di applicazioni
Gli strumenti di test Simcenter Micred offrono una gamma di sistemi progettati per soddisfare le esigenze di diverse applicazioni e settori. Questi sistemi sono dotati di tecnologie avanzate di misurazione e controllo con elevata precisione, velocità e precisione. Sono utilizzati dai centri di ricerca e nei settori dei semiconduttori, dell'elettronica di consumo, automobilistico e dei LED durante l'ingegneria dei componenti, la prototipazione e il test.
Un'eredità di innovazione
La famiglia Simcenter Micred è stata inizialmente sviluppata dai ricercatori del Dipartimento dei dispositivi elettronici dell'Università di Tecnologia ed Economia di Budapest (BME). Siemens continua a portare avanti questa eredità di innovazione.
Caratterizzazione termica dei pacchetti di semiconduttori: metriche termiche, affidabilità e qualità
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