Tessent Yieldinsight
Tessent YieldInsight analizza statisticamente i dati di diagnosi per identificare e separare i limitatori di rendimento sistematici prima di eseguire qualsiasi analisi dei guasti. Tessent YieldInsight è specializzata nella comprensione e nell'identificazione della perdita di resa dovuta ai dati dei test di scansione e rende fruibili i risultati della diagnosi dei volumi.
Perché Tessent Yieldinsight?
Utilizzando tecniche specializzate di data mining e analisi statistica, Tessent YieldInsight elimina il rumore dai dati di diagnosi per determinare le cause alla base, identificare i limitatori di rendimento sistematici e selezionare i migliori dispositivi per l'analisi dei guasti.
Identifica i limitatori di rendimento nascosti
Tessent YieldInsight identifica la causa della perdita sistematica del rendimento e fornisce indicazioni nel processo di selezione dello stampo per l'analisi dei guasti.
Rimuovere il rumore dai risultati della diagnosi
La tecnologia Root Cause Deconvolution (RCD) rimuove il rumore dai risultati della diagnosi e determina le cause alla base. Seleziona e filtra le popolazioni di decessi falliti, raggruppando i dadi che stanno fallendo per ragioni simili.
Funziona con Tessent Diagnosis
Analizza i risultati della diagnosi basata sul layout e sulla cella di Tessent Diagnosis per identificare e separare i limitatori di resa sistematici prima che venga eseguita qualsiasi analisi dei guasti, eliminando la necessità di costose localizzazioni fisiche.
Una nuova tecnologia a catena di scansione reversibile
Organizzato da ASM International, questo webinar congiunto tra Siemens EDA e Qualcomm mette in luce:
- Motivazione per l'utilizzo della diagnosi a catena nella rampa dei rendimenti
- Panoramica della diagnosi della catena, catena reversibile
- Tecnologia e diagnosi della catena reversibile
- Implementazione di catene reversibili
- Risultati del silicio dal chip di test
